技術(shù)編號(hào):11684834
提示:您尚未登錄,請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載,如果您還沒有賬戶請(qǐng)點(diǎn) 注 冊(cè) ,登陸完成后,請(qǐng)刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本實(shí)用新型涉及電路板的測(cè)試裝置領(lǐng)域,特別涉及一種全自動(dòng)電路板四線測(cè)試機(jī)。背景技術(shù)隨著電子產(chǎn)品功能的復(fù)雜化以及電子產(chǎn)品的小型化,積體電路元件的接點(diǎn)距離隨之縮小,移動(dòng)電子母板的封裝日趨密集,對(duì)載體HDI(高密度互連)電路板的要求越來越高,電路板的線間距密度越來越密,對(duì)電路板的布線工藝也有了更高的要求?,F(xiàn)有的HDI電路板經(jīng)過多次鉆孔,圖形轉(zhuǎn)移,及壓板烘烤,不可避免的出現(xiàn)與原始設(shè)計(jì)圖形的偏差,而傳統(tǒng)的測(cè)試設(shè)備都是采用固定位的測(cè)試治具,其測(cè)試針不能根據(jù)偏差情況進(jìn)行調(diào)整,從而出現(xiàn)誤報(bào),導(dǎo)致測(cè)試良率下降,而且...
注意:該技術(shù)已申請(qǐng)專利,請(qǐng)尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出,在未取得專利權(quán)人授權(quán)前,僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán),增加技術(shù)思路,做技術(shù)知識(shí)儲(chǔ)備,不適合論文引用。