技術(shù)編號(hào)：11854955
提示：您尚未登錄，請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請(qǐng)點(diǎn) 注 冊(cè) ，登陸完成后，請(qǐng)刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本實(shí)用新型涉及一種大學(xué)物理實(shí)驗(yàn)裝置，具體是涉及一種利用邁克爾遜干涉光路測(cè)量空氣折射率的實(shí)驗(yàn)裝置。背景技術(shù)光的干涉是重要的光學(xué)現(xiàn)象之一，是光的波動(dòng)性的重要實(shí)驗(yàn)依據(jù)。兩列頻率相同、振動(dòng)方向相同且相位差恒定的相干光在空間相交區(qū)域?qū)?huì)發(fā)生相互加強(qiáng)或減弱的現(xiàn)象，即光的干涉現(xiàn)象。光的波長雖然很短，但干涉條紋的間距和條紋數(shù)卻很容易用光學(xué)儀器測(cè)得。根據(jù)干涉條紋數(shù)目和間距的變化與光程差、波長之間的關(guān)系式，可以推出微小長度變化(光波波長數(shù)量級(jí))和微小角度變化，因此光的干涉現(xiàn)象在照相技術(shù)、測(cè)量技術(shù)、平面角檢測(cè)技術(shù)、材...
注意：該技術(shù)已申請(qǐng)專利，請(qǐng)尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出，在未取得專利權(quán)人授權(quán)前，僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識(shí)儲(chǔ)備，不適合論文引用。