技術(shù)編號：11924191
提示：您尚未登錄，請點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點(diǎn) 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明屬于精密儀器設(shè)備領(lǐng)域，具體是一種用于進(jìn)行二維高精度檢測的檢測平臺。背景技術(shù)二維高精度檢測平臺主要用于精密儀器的二維精度檢測、與二維位置相關(guān)的機(jī)械、電學(xué)、聲學(xué)等性能的檢測和標(biāo)定，檢測平臺自身的位置精度至關(guān)重要。目前，用于檢測平臺方位軸的轉(zhuǎn)動和定位主要是采用齒輪傳動配合大直徑軸承進(jìn)行支撐及轉(zhuǎn)動。但軸承自身會存在間隙，導(dǎo)致方位軸晃動，而且齒輪和軸承的精度決定了方位軸的精度，這就需要很高精度的軸承，其成本高，加工難度大。發(fā)明內(nèi)容本發(fā)明針對現(xiàn)有技術(shù)的上述不足，提出了一種二維高精度檢測平臺，其體積輕便...
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該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識儲備，不適合論文引用。