技術(shù)編號：12358114
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細信息。本發(fā)明涉及X-Ray射線、高低溫控制和光譜檢測領(lǐng)域，特別涉及一種X-Ray誘導(dǎo)熱釋光光譜檢測裝置。背景技術(shù)當(dāng)材料受到高能粒子(如X射線，γ射線等)輻照后會產(chǎn)生電子-空穴對。在材料制備的過程中，由于制備工藝限制難免會存在各種缺陷(電子陷阱，空穴陷阱，反位置缺陷等)，受高能射線輻照后，處于激發(fā)態(tài)的電子或空穴會被材料中的缺陷捕獲，將輻射能量暫時儲存在陷阱中。但這些能級并不穩(wěn)定，當(dāng)加熱時，陷阱中的能量便以光的形式釋放出來，這種現(xiàn)象稱為熱釋發(fā)光。熱釋光對材料研究和了解材料發(fā)光過程來說具有重要意義。以閃爍材...
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