技術(shù)編號:3126407
提示:您尚未登錄,請點 登 陸 后下載,如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ,登陸完成后,請刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明屬于集成電路制造工藝,具體涉及。目前的集成電路制造工藝中都使用硅化物工藝技術(shù)來減少源漏區(qū)域和多晶電極的電阻。無論是0.35/0.25微米技術(shù)的鈦硅化物(TiSi2)還是0.18/0.13微米技術(shù)的鈷硅化物(CoSi2)都用到了兩步硅化物形成工藝。在首先PVD淀積形成硅化物所需的金屬后,通過第一次較低溫度的RTP(快速熱退火)處理淀積的金屬形成高電阻的硅化物。然后通過化學(xué)溶劑APM(氨水和雙氧水混合)/SPM(硫酸和雙氧水混合)去除在場氧化層和柵極側(cè)壁...
注意:該技術(shù)已申請專利,請尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出,在未取得專利權(quán)人授權(quán)前,僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán),增加技術(shù)思路,做技術(shù)知識儲備,不適合論文引用。