技術(shù)編號：39615851
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細信息。本發(fā)明涉及x射線，具體是涉及一種x射線源測量方法和裝置。背景技術(shù)、在相關(guān)技術(shù)領(lǐng)域中，由于x射線源測量方法，通過對x射線的成像效果進行觀察和分析，獲取x射線源的焦點尺寸信息，因此非常依賴x射線成像系統(tǒng)的性能和成像效果，然而，在x射線能量較高時會因透射嚴(yán)重而導(dǎo)致成像的對比度嚴(yán)重下降，由此可見，依賴成像系統(tǒng)的x射線源測量方法不能滿足高精度測量要求。技術(shù)實現(xiàn)思路、本發(fā)明提供一種x射線源測量方法和裝置，能夠獲取準(zhǔn)確的x射線源的焦點尺寸信息。、第一方面，本發(fā)明提供一種x射線源測量裝置，所述裝置包括采集...
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該專利適合技術(shù)人員進行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識儲備，不適合論文引用。