技術(shù)編號：39979121
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明涉及芯片測試，更具體地說，涉及一種固定測試板的移動裝置。背景技術(shù)、芯片老化測試(aging?test)是評估半導(dǎo)體芯片在長時間使用過程中性能變化的關(guān)鍵手段之一。隨著電子設(shè)備的廣泛應(yīng)用和集成電路的復(fù)雜度增加，芯片的可靠性和壽命成為影響產(chǎn)品質(zhì)量和市場競爭力的重要因素。、在對芯片進(jìn)行測試時，測試板會在老化箱體進(jìn)行老化測試，而由于測試板的面積及總量較大，會采用載車承載與運輸測試板，將測試板移動至箱體內(nèi)，并插入至箱體的插槽進(jìn)行老化測試。、目前，載車的一面是自由面，用于使測試板滑出并與箱體的插槽...
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該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識儲備，不適合論文引用。