技術(shù)編號：40363266
提示：您尚未登錄，請點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點(diǎn) 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明涉及離子遷移譜，尤其是指一種基于離子遷移譜的離子檢測裝置及檢測方法。背景技術(shù)、不同物質(zhì)的離子具有不同的遷移率，因此在同一均勻電場內(nèi)飛行相同距離所需要的時間不同，離子遷移譜正是根據(jù)離子飛行時間這一特征信息檢測和確定物質(zhì)種類；然而對于遷移率相同或相近的物質(zhì)，常規(guī)的離子遷移譜并不能準(zhǔn)確區(qū)分；針對于此可以對遷移譜內(nèi)遷移率相近的離子進(jìn)行碎裂，根據(jù)二級碎片離子的遷移譜信息進(jìn)一步分辨物質(zhì)，但是碎裂方式和檢測技術(shù)均較為復(fù)雜，且碎裂要求在真空環(huán)境下進(jìn)行。技術(shù)實(shí)現(xiàn)思路、為此，本發(fā)明所要解決的技術(shù)問題在于克...
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該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識儲備，不適合論文引用。