技術(shù)編號：40374655
提示：您尚未登錄，請點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點(diǎn) 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本申請涉及電壓測試，尤其是涉及一種電壓測試輔助裝置及電壓測試治具。背景技術(shù)、隨著社會的發(fā)展及科學(xué)技術(shù)的進(jìn)步，x射線平板探測器在醫(yī)學(xué)影響領(lǐng)域、工業(yè)探傷領(lǐng)域都具有廣泛的應(yīng)用。平板探測器工作時(shí)，電路板的電壓參數(shù)能夠反應(yīng)探測器的工作狀態(tài)，因此，當(dāng)平板探測器發(fā)生異常時(shí)，需要對平板探測器的電路板上的測試點(diǎn)進(jìn)行電壓測試，以對探測器的故障原因進(jìn)行排查。、在對平板探測器電路板的電壓進(jìn)行測試時(shí)，通常需要在電路板的測試點(diǎn)焊接外接引線，通過電壓測試治具連接外接引線以對電路板的電壓進(jìn)行測試。然而，在對電路板的測試點(diǎn)進(jìn)...
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該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識儲備，不適合論文引用。