技術(shù)編號：40390049
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細信息。本技術(shù)涉及電子元器件分選設(shè)備，特別涉及一種大規(guī)格電子元器件芯片的自動化分選裝置。背景技術(shù)、芯片電性能測試是保證芯片質(zhì)量和性能穩(wěn)定的重要手段。芯片在集成電路生產(chǎn)過程中，由于加工工藝、材料質(zhì)量等原因會出現(xiàn)一些不穩(wěn)定的因素，而芯片電性能測試可以檢測這些影響芯片性能的因素，及時排除不良芯片，從而確保芯片的可靠性和穩(wěn)定性。、電子元器件芯片制作完成后，通過電性能檢測機進行檢測芯片的電性能，及時分選出不良的電子元器件芯片。目前，大規(guī)格電子元器件芯片檢測后的分選通常是由人工根據(jù)電性能檢測機的檢測結(jié)果，對芯片...
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