技術(shù)編號(hào)：40398785
提示：您尚未登錄，請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請(qǐng)點(diǎn) 注 冊(cè) ，登陸完成后，請(qǐng)刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明涉及太赫茲芯片設(shè)計(jì)，尤其涉及一種雙壓點(diǎn)太赫茲芯片、組件及制備方法。背景技術(shù)、隨著太赫茲技術(shù)在無線通訊、雷達(dá)成像等領(lǐng)域的廣泛應(yīng)用，太赫茲單片集成電路芯片獲得了快速的發(fā)展。太赫茲芯片屬于平面集成電路，芯片接口一般采用共面波導(dǎo)(gsg)形式的壓點(diǎn)，g代表地壓點(diǎn)，s代表信號(hào)壓點(diǎn)。該壓點(diǎn)用于在片測試及金絲鍵合裝配。、在太赫茲頻段(ghz以上)，用于電性能測試的高頻微波探針結(jié)構(gòu)非常精密，一般探針寬度不超過um，相鄰針間距為um，這樣的設(shè)計(jì)可以保證測試探針扎到芯片焊盤路徑上的信號(hào)傳輸損...
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該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識(shí)儲(chǔ)備，不適合論文引用。