技術(shù)編號:40400399
提示:您尚未登錄,請點 登 陸 后下載,如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ,登陸完成后,請刷新本頁查看技術(shù)詳細信息。本說明書涉及射電天文領(lǐng)域,尤其涉及一種針對甚長基線干涉陣列數(shù)據(jù)的天體成像方法及裝置。背景技術(shù)、甚長基線干涉測量(very?long?baseline?interferometry,vlbi)是一種用于天體高分辨率觀測的射電天文技術(shù)。該技術(shù)允許用多臺相距較遠的天文望遠鏡(天線)同時觀測同一個天體目標,構(gòu)成口徑大小相當于望遠鏡之間最大距離的巨型望遠鏡(基線),從而提高觀測效果。由于該技術(shù)具備為觀測目標提供高精度定位與高分辨率圖像的卓越能力,其應用范圍現(xiàn)已廣泛涵蓋深空探月、衛(wèi)星探測、黑洞探測以及天體...
注意:該技術(shù)已申請專利,請尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出,在未取得專利權(quán)人授權(quán)前,僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán),增加技術(shù)思路,做技術(shù)知識儲備,不適合論文引用。