技術(shù)編號(hào):40404587
提示:您尚未登錄,請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載,如果您還沒(méi)有賬戶請(qǐng)點(diǎn) 注 冊(cè) ,登陸完成后,請(qǐng)刷新本頁(yè)查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明屬于晶體加工,涉及一種高精度小尺寸圓柱型晶體晶向旋轉(zhuǎn)檢測(cè)裝置及方法。背景技術(shù)、單晶材料性能存在各向異性,在特定的晶向下光學(xué)特性顯著,因此對(duì)單晶晶體取向的判定意義重大。x射線定向儀是一種依據(jù)x射線衍射原理,針對(duì)晶體材料幾何表面與其內(nèi)部某一晶面間角度進(jìn)行精密測(cè)定的光學(xué)檢測(cè)儀器。傳統(tǒng)的晶體定向儀通常是通過(guò)真空吸附將晶體吸附于固定位置,測(cè)完一面后再手動(dòng)旋轉(zhuǎn)°或°進(jìn)行再次測(cè)量。這樣的固定方式對(duì)于經(jīng)過(guò)兩面超光滑加工的小尺寸圓柱型晶體來(lái)說(shuō),若吸附底面,則會(huì)損壞已加工好的表面;若吸附側(cè)面,則不...
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該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán),增加技術(shù)思路,做技術(shù)知識(shí)儲(chǔ)備,不適合論文引用。