技術(shù)編號：40407495
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細信息。本申請涉及光學(xué)測量，具體而言，涉及一種自聚焦透鏡陣列調(diào)制傳遞函數(shù)值的測試裝置及方法。背景技術(shù)、現(xiàn)有技術(shù)中對被測物鏡進行測試時，通常采用的是如圖所示的測試儀器，包括：光源、聚光鏡、可變?yōu)V光片、可變狹縫、平行光管物鏡、被測物鏡、空間頻率狹縫、透鏡、旋轉(zhuǎn)光柵掃描器、半反半透鏡、目視觀察鏡、聚光鏡和光電接收器；在具體地實施過程中，被測物鏡將可變狹縫成像在旋轉(zhuǎn)光柵掃描器上，實現(xiàn)可變狹縫和旋轉(zhuǎn)光柵掃描器之間的相對掃描，有效掃描孔隨時間變化的光通量由光電接收器...
注意：該技術(shù)已申請專利，請尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出，在未取得專利權(quán)人授權(quán)前，僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識儲備，不適合論文引用。