技術編號：5266432
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術詳細信息。本發(fā)明涉及一種掃描熱顯微鏡探針。背景技術近年來，隨著納米科學技術的飛速發(fā)展，一系列可以針對納米材料的測量技術應運而生，其中最引人注目的是原子力顯微鏡技術，其具有極高的分辨率。掃描熱顯微鏡技術是在原子力顯微鏡技術基礎上發(fā)展起來的，其通過在原子力顯微鏡探針上制作微型熱電偶，利用溫差電動勢來測量納米材料的溫度和表面結構。同時利用原子力顯微鏡卓越的空間分辨本領來實現對溫度空間分布的精確測量。掃描熱顯微鏡在量測材料的表面結構時，首先將探針穩(wěn)定在樣品表面，并向結點通直...
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