技術(shù)編號(hào)：5821784
提示：您尚未登錄，請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請(qǐng)點(diǎn) 注 冊(cè) ，登陸完成后，請(qǐng)刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明涉及分析化學(xué)領(lǐng)域，特別涉及質(zhì)譜儀的離子源，具體為表面解吸常壓化 學(xué)電離源及使用該電離源進(jìn)行表面解吸常壓化學(xué)電離質(zhì)譜分析的技術(shù)。 背景技術(shù)質(zhì)譜學(xué)是廣泛應(yīng)用于各個(gè)學(xué)科領(lǐng)域中通過制備、分離、檢測(cè)氣相離子來鑒定 化合物的專門科學(xué)和技術(shù)。質(zhì)譜儀是質(zhì)譜學(xué)研究與應(yīng)用的基礎(chǔ)。質(zhì)譜儀一般包括樣 品引入系統(tǒng)、離子源、離子光學(xué)系統(tǒng)、質(zhì)量分析器、檢測(cè)器、數(shù)據(jù)釆集與控制系統(tǒng)、 真空系統(tǒng)等。國際著名質(zhì)譜大師如R. Graham Cooks教授等普遍認(rèn)為無論是對(duì)有機(jī)質(zhì) 譜還是無機(jī)...
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該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識(shí)儲(chǔ)備，不適合論文引用。