技術(shù)編號(hào)：5878569
提示：您尚未登錄，請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒(méi)有賬戶請(qǐng)點(diǎn) 注 冊(cè) ，登陸完成后，請(qǐng)刷新本頁(yè)查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明涉及一種中子無(wú)損檢測(cè)系統(tǒng)，尤其涉及一種中子源和探測(cè)器在同側(cè)對(duì)厚材料的檢測(cè)，屬于射線無(wú)損檢測(cè)領(lǐng)域。背景技術(shù)中子用于無(wú)損檢測(cè)，主要根據(jù)入射中子同檢測(cè)材料作用后其出射中子注量、能量的變化實(shí)現(xiàn)對(duì)材料內(nèi)部結(jié)構(gòu)檢測(cè)。中子由于不帶電，主要同原子核作用，其同不同材料的反應(yīng)截面隨原子序數(shù)變化很不規(guī)則，如氫(H)、鋰(Li)、硼(B)等輕元素和少數(shù)重元素對(duì)中子有很大的反應(yīng)截面，大部分重元素對(duì)中子有較小的反應(yīng)截面。因此，中子作為無(wú)損檢測(cè)的工具可檢測(cè)輕元素物質(zhì)或被重元素物質(zhì)...
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