技術(shù)編號：5881226
提示：您尚未登錄，請點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點(diǎn) 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明涉及一種根據(jù)權(quán)利要求1的前序部分所述的方法，該方法用于處理具有 與溫度有關(guān)的歐姆阻抗的測量元件、尤其是能斯特(Nernst)探測器的所測量的歐姆阻 抗R(t)，其中在時刻tx測量該測量元件的歐姆阻抗R(tx)，并且在測量所測量的歐姆阻抗 R(tx)的測量時刻tx，從圍繞測量元件的氣體的至少一個物理和/或化學(xué)參數(shù)中確定根據(jù) 修正系數(shù)Κλ的修正系數(shù)Ka (tx)，這些修正系數(shù)Ka是對于圍繞測量元件的氣體的至少一 個物理和/或化學(xué)參數(shù)的不同的值所預(yù)先確定的...
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該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識儲備，不適合論文引用。