技術編號：5913638
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術詳細信息。本發(fā)明屬于光學精密測量及圖像顯示，特別涉及一種位相物體位相分布的定量測量方法和裝置及其應用。背景技術觀察及顯示純位相物體的方法有多種，主要有相襯法、暗場法、紋影法、刀口法等，這些方法在光學信息處理、生物醫(yī)學、材料檢測及科學研究等領域有廣泛應用，但這些方法多用于定性觀察，難以實現(xiàn)純位相物體的定量位相分布測量。目前，位相物體的定量測量方法主要有雙點源干涉掃描成像法、微分干涉相襯法、相移干涉法等，這些方法各有優(yōu)缺點，有些不能進行實時測量，有些光學元件較多，光路調...
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