技術(shù)編號：5955548
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明涉及一種動態(tài)測量物料表面環(huán)境參數(shù)的方法，及應(yīng)用該種方法的監(jiān)測裝置。背景技術(shù)對于相對封閉的物料貯存設(shè)施，例如糧倉、煤筒倉等，貯倉內(nèi)的物料高度隨著落料、出料而不斷升高、降低。貯倉內(nèi)料層表面的環(huán)境參數(shù)的變化直接影響物料及貯倉的安全性。例如烷烴等可燃?xì)怏w、一氧化碳有毒氣體這些易燃易爆氣體、煙霧及溫度等是封閉式貯存設(shè)施的安全隱患。常規(guī)的方法在監(jiān)測倉內(nèi)的環(huán)境參數(shù)時，無法做到實時跟蹤料位的變化，從而不能較及時準(zhǔn)確的反映儲料內(nèi)部環(huán)境狀態(tài)的變化。 發(fā)明內(nèi)容本發(fā)明的目的...
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該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識儲備，不適合論文引用。