技術(shù)編號(hào)：5958053
提示：您尚未登錄，請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請(qǐng)點(diǎn) 注 冊(cè) ，登陸完成后，請(qǐng)刷新本頁(yè)查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明涉及一種用于單粒子試驗(yàn)的芯片保護(hù)裝置，尤其涉及一種用于單粒子試驗(yàn)的通用芯片保護(hù)裝置。背景技術(shù)單粒子試驗(yàn)是用加速器產(chǎn)生的高能粒子照射器件芯片，進(jìn)而檢測(cè)器件在高能粒子照射下狀態(tài)變化情況的一種試驗(yàn)。試驗(yàn)前，將單粒子試驗(yàn)樣品(待測(cè)器件)無損開帽，露出內(nèi)部芯片，然后再電裝到試驗(yàn)板上。在試驗(yàn)過程中，露出的芯片受到高能粒子的照射，同時(shí)利用試驗(yàn)板對(duì)內(nèi)部芯片進(jìn)行狀態(tài)測(cè)試。因?yàn)樾酒菀资艿酵饨缫蛩氐挠绊懀缢?、雜質(zhì)顆粒等，因此在開帽的地點(diǎn)到產(chǎn)生高能粒子的加速器中的運(yùn)...
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該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識(shí)儲(chǔ)備，不適合論文引用。