技術(shù)編號：6006425
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明屬于電子數(shù)據(jù)采集和處理的，特別涉及一種可進(jìn)行內(nèi)部電磁干擾失效診斷的方法。背景技術(shù)隨著人們對電子產(chǎn)品質(zhì)量要求的不斷增加，電子設(shè)備的可靠性成為一項重要參數(shù)指標(biāo)。失效分析作為保證電子設(shè)備可靠性工作的重要環(huán)節(jié)，目前研究熱點在于電磁干擾而導(dǎo)致電子儀器失效的診斷方法。然而，現(xiàn)有的EMI失效診斷都集中診斷外部電磁干擾對電子元器件的影響，而忽略了一些高集成度的電子儀器內(nèi)部的電磁干擾。同時，已有的失效診斷技術(shù)各有側(cè)重點，其中傅里葉變換失效分析法只能做宏觀診斷，小波變換...
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該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識儲備，不適合論文引用。