技術(shù)編號：6010621
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明涉及SOC的測試方法。 背景技術(shù)隨著集成電路制造工藝的逐漸提高，一塊芯片上所集成的IP核(Intellectual Property)越來越多。SOC的復(fù)雜度直線上升，與此同時也給SOC測試帶來了許多新的挑戰(zhàn)。 其中測試時間長，測試數(shù)據(jù)量大，測試功耗大已成為SOC測試中需要注意的三大問題。由于SOC通常是由可以重用的IP核組成，對測試向量進(jìn)行編碼不需要知道IP核的結(jié)構(gòu)信息，測試壓縮技術(shù)在減少測試數(shù)據(jù)量和測試時間上能取得很好的效果。傳統(tǒng)的數(shù)據(jù)壓縮和解壓...
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