技術(shù)編號：6018275
提示：您尚未登錄，請點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點(diǎn) 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明涉及離子遷移率譜儀，是一種離子遷移率譜儀半透膜預(yù)富集進(jìn)樣 方法及裝置。背景技術(shù)離子遷移率譜技術(shù)是利用氣相離子在弱電場中遷移率的不同來檢測物質(zhì)的方法， 其原理與飛行時間質(zhì)譜相似，主要的區(qū)別是離子遷移率譜技術(shù)中離子的分離是在大氣壓或 接近大氣壓的環(huán)境下進(jìn)行。離子遷移率譜儀(IMS Ion mobility spectrometer)主要由漂 移管以及外圍的氣路系統(tǒng)、電路系統(tǒng)組成，其中漂移管包括離化區(qū)、離子門、離子漂移區(qū)以 及法拉第盤等。在利用離子遷移率譜...
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