技術(shù)編號：6070636
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細信息。本實用新型涉及一種可編程電子熔絲的測試結(jié)構(gòu)，包括獨立設(shè)置的第一測試子結(jié)構(gòu)、第二測試子結(jié)構(gòu)和第三測試子結(jié)構(gòu)；其中，第三測試子結(jié)構(gòu)包括第一可編程電子熔絲陣列、第一晶體管、第三測試焊盤、第四測試焊盤、第五測試焊盤和第六測試焊盤，第一晶體管的源極與第三測試焊盤連接，第一晶體管的柵極與第五測試焊盤連接，第一晶體管的漏極分別與第四測試焊盤和第六測試焊盤連接，第一可編程電子熔絲陣列設(shè)置于第一晶體管的漏極與第六測試焊盤之間。在本實用新型提供的可編程電子熔絲的測試結(jié)構(gòu)中，采...
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