技術編號：6100421
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術詳細信息。本發(fā)明涉及電子領域，特別涉及。 背景技術根據(jù)國家計量檢測規(guī)程和試驗任務的客觀要求，對原子頻標日頻率漂移率和日頻率穩(wěn)定度兩項指標必須進行檢測，原子頻標的日頻率漂移率和日頻率穩(wěn)定度都是與頻率有關的參數(shù)，是在獲得頻率準確度的基礎上計算出來的。對這兩項指標的檢測，一般采用兩種方法比相法和比時法?，F(xiàn)有技術中采用比相法對一臺被測頻率源進行檢測時，需要一臺比相儀和一臺高穩(wěn)定度的時鐘源，若同時檢測多臺被測頻率源，則需要多臺比相儀和一臺高穩(wěn)定度的時鐘源來完成；現(xiàn)有技術中采用...
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