技術(shù)編號：6112194
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細信息。本發(fā)明涉及光學(xué)系統(tǒng)的測量，特別是一種干涉儀精確確定光學(xué)系統(tǒng)聚焦面的方法和裝置。背景技術(shù)隨著科學(xué)技術(shù)的發(fā)展與計算機技術(shù)的提高，對光學(xué)系統(tǒng)的要求越來越高，因而對各種光學(xué)元件的要求也越來越高，干涉檢測隨之得到不斷提高?，F(xiàn)在干涉儀的測量精度在不斷提高，并在光學(xué)裝調(diào)中得到了越來越廣泛的應(yīng)用。為了提高光學(xué)系統(tǒng)精度，不少專利涉及組裝光學(xué)系統(tǒng)，例如CN00130721.5，CN200420012162.9，CN99251361.8。CN00130721.5用光譜儀裝調(diào)光學(xué)...
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該專利適合技術(shù)人員進行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識儲備，不適合論文引用。