技術(shù)編號(hào)：6121617
提示：您尚未登錄，請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請(qǐng)點(diǎn) 注 冊(cè) ，登陸完成后，請(qǐng)刷新本頁(yè)查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明涉及通過測(cè)定樣品對(duì)入射輻射的響應(yīng)來測(cè)量材料特性，尤其是 涉及分析物如人體組織中的葡萄糖或酒精的測(cè)量。背景技術(shù)本申請(qǐng)要求2005年2月9日提交的號(hào)碼為60/651, 679的美國(guó)臨時(shí)申 請(qǐng)文件 "The Influence of Changing Pathlength Distributions in the Measurement of Analytes Noninvasively and Methods for Mitigation and Cor...
注意：該技術(shù)已申請(qǐng)專利，請(qǐng)尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出，在未取得專利權(quán)人授權(quán)前，僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識(shí)儲(chǔ)備，不適合論文引用。