技術(shù)編號(hào)：6122164
提示：您尚未登錄，請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒(méi)有賬戶請(qǐng)點(diǎn) 注 冊(cè) ，登陸完成后，請(qǐng)刷新本頁(yè)查看技術(shù)詳細(xì)信息。 本發(fā)明涉及一種測(cè)距/測(cè)速儀和一種測(cè)距/測(cè)速方法，通過(guò)使用經(jīng)過(guò)波長(zhǎng)調(diào)制的波來(lái)測(cè)量與測(cè)量目標(biāo)的距離和測(cè)量目標(biāo)的速度。 背景技術(shù) 使用由激光器引起的光干涉的測(cè)距技術(shù)一直作為高精度測(cè)量方法而使用，由于測(cè)量是非接觸式的，所以不會(huì)干擾測(cè)量目標(biāo)。近來(lái)嘗試了使用半導(dǎo)體激光器作為光學(xué)測(cè)量光源，以使設(shè)備小型化。典型示例時(shí)使用FM外差干涉儀。該設(shè)備可測(cè)量相對(duì)較長(zhǎng)的距離，并具有高精度。然而，該設(shè)備要使用半導(dǎo)體激光器外部的干涉儀，因此需要復(fù)雜的光學(xué)系統(tǒng)。 還提出了一種在半導(dǎo)體...
注意：該技術(shù)已申請(qǐng)專利，請(qǐng)尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出，在未取得專利權(quán)人授權(quán)前，僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識(shí)儲(chǔ)備，不適合論文引用。