技術(shù)編號(hào)：6127664
提示：您尚未登錄，請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請(qǐng)點(diǎn) 注 冊(cè) ，登陸完成后，請(qǐng)刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明涉及LCD (Liquid Crystal Display,液晶顯示器)制造領(lǐng)域的測(cè) 試技術(shù)，具體地說是涉及一種ITO電極測(cè)試技術(shù)。 背景技術(shù)ITO (Indium Tin Oxides,銦錫氧化物)玻璃是LCD重要組成部分， ITO腐蝕是液晶顯示器制造中非常嚴(yán)重的問題。ITO腐蝕是指ITO在潮濕 或酸堿環(huán)境下，得到電子還原成金屬單體或交換得到酸堿根離子生成其它 物質(zhì)。導(dǎo)致ITO腐蝕的一般原因是對(duì)ITO層保護(hù)不足或在保護(hù)前ITO已被 污染。ITO腐蝕...
注意：該技術(shù)已申請(qǐng)專利，請(qǐng)尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出，在未取得專利權(quán)人授權(quán)前，僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識(shí)儲(chǔ)備，不適合論文引用。