技術(shù)編號(hào)：6128557
提示：您尚未登錄，請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請(qǐng)點(diǎn) 注 冊 ，登陸完成后，請(qǐng)刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明涉及用于在高溫下利用探針陣列的單觸地(touchdown)處理測試器與多個(gè)被測器件之間的信號(hào)的裝置、系統(tǒng)和方法。背景技術(shù) 其他人已經(jīng)開發(fā)出針對(duì)包含很多NAND裸片(例如432個(gè)NAND裸片)的300mm晶片的雙觸地測試的解決方案，其中每個(gè)NAND裸片具有16個(gè)測試點(diǎn)，從而432個(gè)NAND裸片總共具有6912個(gè)測試點(diǎn)。一般而言，這種測試?yán)冒惭b在自動(dòng)測試裝備(ATE)系統(tǒng)的被測器件(DUT)接口中的機(jī)械繼電器。這些繼電器通常在電氣上遠(yuǎn)離被測器件(DUT...
注意：該技術(shù)已申請(qǐng)專利，請(qǐng)尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出，在未取得專利權(quán)人授權(quán)前，僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識(shí)儲(chǔ)備，不適合論文引用。