技術(shù)編號(hào)：6165020
提示：您尚未登錄，請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請(qǐng)點(diǎn) 注 冊(cè) ，登陸完成后，請(qǐng)刷新本頁(yè)查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明涉及一種方法，用于定位金屬或含金屬的對(duì)象和材料，即使在受金屬的影響的情況下，至少兩個(gè)發(fā)射線圈中的電流相對(duì)于彼此被調(diào)節(jié)，由此使得將由至少一個(gè)接收線圈接收的接收線圈輸出信號(hào)或從接收線圈輸出信號(hào)生成的解調(diào)相位的平均值被持續(xù)彼此調(diào)節(jié)到“零”。所需的控制變量的幅度通過(guò)解調(diào)而被檢測(cè)為值，優(yōu)選地，至少在0°并且在偏移了90°的解調(diào)處理中，并且被均衡，從而改善該方法，諸如即使在檢測(cè)區(qū)中存在其他金屬對(duì)象，也允許待檢測(cè)對(duì)象的可靠檢測(cè)。專利說(shuō)明用于定位金屬對(duì)象的金屬探測(cè)器...
注意：該技術(shù)已申請(qǐng)專利，請(qǐng)尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出，在未取得專利權(quán)人授權(quán)前，僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識(shí)儲(chǔ)備，不適合論文引用。