技術(shù)編號(hào):6293261
提示:您尚未登錄,請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載,如果您還沒(méi)有賬戶請(qǐng)點(diǎn) 注 冊(cè) ,登陸完成后,請(qǐng)刷新本頁(yè)查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明公開(kāi)了一種主控板的測(cè)試方法、裝置及系統(tǒng)。其中,主控板的測(cè)試方法包括上位機(jī)與被測(cè)主控板建立通訊關(guān)系,以獲取被測(cè)主控板上的測(cè)試數(shù)據(jù)集;上位機(jī)根據(jù)預(yù)先設(shè)置的配套控制器參數(shù)對(duì)測(cè)試數(shù)據(jù)集中的數(shù)據(jù)進(jìn)行處理,以生成對(duì)應(yīng)配套控制器參數(shù)的回復(fù)數(shù)據(jù);上位機(jī)將生成的回復(fù)數(shù)據(jù)發(fā)送給被測(cè)主控板。通過(guò)采用上位機(jī)模擬配套控制器與被測(cè)主控板進(jìn)行通訊,來(lái)完成對(duì)主控板的測(cè)試,解決了現(xiàn)有技術(shù)中測(cè)試主控板的方法測(cè)試成本大、測(cè)試效率低的技術(shù)問(wèn)題,進(jìn)而實(shí)現(xiàn)了方便快捷、節(jié)省測(cè)試成本的測(cè)試主控板的...
注意:該技術(shù)已申請(qǐng)專利,請(qǐng)尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出,在未取得專利權(quán)人授權(quán)前,僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
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