技術(shù)編號(hào)：68331
提示：您尚未登錄，請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請(qǐng)點(diǎn) 注 冊(cè) ，登陸完成后，請(qǐng)刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。技術(shù)領(lǐng)域本發(fā)明涉及一種成像系統(tǒng)，更特別地說，是指一種基于輕敲模式原子力顯微鏡的六次諧波成像系統(tǒng)。技術(shù)背景原子力顯微鏡(Atomic Force Microscope, AFM)是一種利用原子、分子間的相互作用力來觀察物體表面微觀形貌的儀器。原子力顯微鏡有一根納米級(jí)的探針被固定在可靈敏操控的微米級(jí)彈性懸臂上，當(dāng)探針靠近樣品時(shí)，其頂端的原子與樣品表面原子間的作用力會(huì)使懸臂彎曲，偏離原來的位置。根據(jù)掃描樣品時(shí)探針的偏離量或振動(dòng)頻率重建三維圖像，就能間接獲得樣品表面的形貌或成分信息。傳統(tǒng)的輕敲模式原子力顯微鏡的成像系統(tǒng)中，...
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該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識(shí)儲(chǔ)備，不適合論文引用。