技術(shù)編號：7160250
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細信息。本發(fā)明屬于半導(dǎo)體領(lǐng)域高性能新器件新結(jié)構(gòu)的設(shè)計，是一種新型復(fù)合型光電檢測器件。背景技術(shù) 光電檢測器是光電子集成電路中的重要組成部分，是CMOS圖像傳感器陣列的關(guān)鍵。噪聲的大小直接影響CMOS圖像傳感器對圖像源信息的接收、輸入、采集和處理的各個環(huán)節(jié)，因此如何提高信噪比是設(shè)計CMOS圖像傳感器的關(guān)鍵技術(shù)之一。盡量在圖像傳感器的前端-光電檢測器部分降低噪聲和提高轉(zhuǎn)化效率，可以降低對圖像處理技術(shù)的要求，獲得高質(zhì)量的圖像。CMOS圖像傳感器的發(fā)展得益于集成電路工藝的最...
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