技術(shù)編號：7208889
提示：您尚未登錄，請點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點(diǎn) 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明涉及一種用于CT系統(tǒng)(特別是雙能CT系統(tǒng))所用檢測器的檢測器材料， 所述檢測器材料由一摻有一施主(Donator)的半導(dǎo)體構(gòu)成。本發(fā)明此外還涉及一種具有復(fù)數(shù)個檢測器元件的檢測器，所述檢測器使用的是上述檢測器材料。背景技術(shù) 為了檢測伽馬輻射和X射線輻射，特別是在CT系統(tǒng)和雙能CT系統(tǒng)中檢測上述輻射，傳統(tǒng)方法主要采用基于如CdTe、CdZnTe, CdTeSe和CdSiTek等半導(dǎo)體材料的直接轉(zhuǎn)換型檢測器。為了產(chǎn)生檢測器工作所需的電特性，需要對這些材料進(jìn)...
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該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識儲備，不適合論文引用。