技術(shù)編號(hào):7511685
提示:您尚未登錄,請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載,如果您還沒(méi)有賬戶請(qǐng)點(diǎn) 注 冊(cè) ,登陸完成后,請(qǐng)刷新本頁(yè)查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明涉及一種三角波信號(hào)發(fā)生器,特別涉及一種內(nèi)建片上模擬連續(xù)三角 波信號(hào)發(fā)生器。技術(shù)背景集成電路工藝的發(fā)展使設(shè)計(jì)高性能的模擬電路和模擬數(shù)字混合集成電路 成為可能。但是,隨著電路復(fù)雜程度的提高,人們對(duì)測(cè)試提出了更高的要求。 內(nèi)建自測(cè)試結(jié)構(gòu)正是基于測(cè)試的復(fù)雜性而提出的。它可以顯著地降低測(cè)試成 本,減少測(cè)試時(shí)間。 一種測(cè)試結(jié)構(gòu)是使用純數(shù)字電路產(chǎn)生測(cè)試向量,通過(guò)將數(shù) 一模轉(zhuǎn)換器的模擬結(jié)果作為模一數(shù)轉(zhuǎn)換器的輸入來(lái)實(shí)現(xiàn)。很明顯,這種條件下 要測(cè)試模一數(shù)轉(zhuǎn)換器就一定要有...
注意:該技術(shù)已申請(qǐng)專利,請(qǐng)尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出,在未取得專利權(quán)人授權(quán)前,僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán),增加技術(shù)思路,做技術(shù)知識(shí)儲(chǔ)備,不適合論文引用。
該類技術(shù)注重原理思路,無(wú)完整電路圖,適合研究學(xué)習(xí)。