技術(shù)編號：7528239
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細信息。本實用新型公開一種上升沿檢測電路，由雙穩(wěn)態(tài)存儲單元、非對稱延遲單元、反相器和多個NMOS晶體管組成，只要非對稱延遲電路滿足上升沿延遲與下降沿延遲之和大于輸入信號的脈沖周期且下降沿延遲很小時，就能夠產(chǎn)生最大脈寬接近輸入信號脈沖周期的輸出信號，可滿足后續(xù)設(shè)備的使用要求。本實用新型不但結(jié)構(gòu)簡單，還具有自啟動功能，當輸入信號的初始低電平長度大于非對稱延遲電路的上升沿延遲，就能夠?qū)崿F(xiàn)自啟動。專利說明上升沿檢測電路 [0001]本實用新型涉及一種上升沿檢電路，尤...
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該專利適合技術(shù)人員進行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識儲備，不適合論文引用。
該類技術(shù)注重原理思路，無完整電路圖，適合研究學(xué)習(xí)。