技術(shù)編號(hào)：8338469
提示：您尚未登錄，請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒(méi)有賬戶請(qǐng)點(diǎn) 注 冊(cè) ，登陸完成后，請(qǐng)刷新本頁(yè)查看技術(shù)詳細(xì)信息。 本發(fā)明屬于帶電粒子探測(cè)，涉及一種利用全耗盡型硅探測(cè)器，通過(guò)分析 其頻域特性進(jìn)行質(zhì)子和α粒子甄別的方法。背景技術(shù) 帶電粒子的甄別是進(jìn)行空間輻射防護(hù)、空間環(huán)境監(jiān)測(cè)、粒子事件預(yù)報(bào)、空間科學(xué)探 索與研宄的重要基礎(chǔ)，也是核物理實(shí)驗(yàn)與核素分析的重要保證。傳統(tǒng)的帶電粒子甄別方法 主要是探測(cè)器望遠(yuǎn)鏡法、飛行時(shí)間法、磁分析方法和靜電分析法等，而探測(cè)器望遠(yuǎn)鏡法和飛 行時(shí)間法由于設(shè)備簡(jiǎn)單，鑒別效果較好，在許多探測(cè)器上都得到了應(yīng)用。但望遠(yuǎn)鏡法要求粒 子具有足夠的能量穿過(guò)透射探測(cè)...
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該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識(shí)儲(chǔ)備，不適合論文引用。