技術(shù)編號(hào):8769926
提示:您尚未登錄,請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載,如果您還沒(méi)有賬戶(hù)請(qǐng)點(diǎn) 注 冊(cè) ,登陸完成后,請(qǐng)刷新本頁(yè)查看技術(shù)詳細(xì)信息。同軸光檢測(cè)設(shè)備廣泛應(yīng)用于工業(yè)制造、檢測(cè)、電子元件及精密加工等領(lǐng)域。同軸光檢測(cè)設(shè)備一般包括光源、漫射板、半透反光鏡及檢測(cè)鏡頭。光源發(fā)出光線(xiàn),經(jīng)過(guò)漫射板形成較均勻的面光,再通過(guò)半透反光鏡照亮被測(cè)物體。被測(cè)物表面經(jīng)過(guò)漫反射或鏡面反射將部分光線(xiàn)反射,通過(guò)半透反光鏡進(jìn)入檢測(cè)鏡頭,形成圖像采集。在現(xiàn)有的技術(shù)中,由于光源只是經(jīng)過(guò)漫射板形成較均勻的面光源,屬于漫射光,光線(xiàn)不具有一致的方向性。此類(lèi)光照射被測(cè)物后形成的圖像采集會(huì)出現(xiàn)虛邊、對(duì)比不明顯或成像不精細(xì)等情況,從而造成...
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