技術(shù)編號(hào):9138125
提示:您尚未登錄,請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載,如果您還沒有賬戶請(qǐng)點(diǎn) 注 冊(cè) ,登陸完成后,請(qǐng)刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。干涉現(xiàn)象是光的波動(dòng)性的最嚴(yán)格、最有效的證明,這個(gè)現(xiàn)象是由于兩束或多束光的重疊,使能量體密度在空間上規(guī)則分布的結(jié)果。光干涉測(cè)量方法作為檢測(cè)高精密光學(xué)元件和系統(tǒng)的最傳統(tǒng)、有效手段之一,已大量的應(yīng)用于科學(xué)研究與工業(yè)生產(chǎn)之中。在實(shí)際使用過程中,現(xiàn)階段干涉儀大多采用激光器作為照明光源,而激光器具有極強(qiáng)的時(shí)間和空間相干性,因此,在干涉檢測(cè)過程中,并不需要考慮干涉腔長(zhǎng)的限制,就可以使干涉條紋具有良好的對(duì)比度,并且隨著電子與計(jì)算機(jī)技術(shù)的發(fā)展,產(chǎn)生的位相干涉檢測(cè)技術(shù),使測(cè)量...
注意:該技術(shù)已申請(qǐng)專利,請(qǐng)尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出,在未取得專利權(quán)人授權(quán)前,僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán),增加技術(shù)思路,做技術(shù)知識(shí)儲(chǔ)備,不適合論文引用。