技術(shù)編號(hào)：9215676
提示：您尚未登錄，請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒(méi)有賬戶請(qǐng)點(diǎn) 注 冊(cè) ，登陸完成后，請(qǐng)刷新本頁(yè)查看技術(shù)詳細(xì)信息。 本發(fā)明涉及一種X射線熒光光譜本底扣除方法，屬于光譜處理領(lǐng)域。背景技術(shù) 能量色散X射線熒光（EDXRF)光譜儀從20世紀(jì)70年代初跨入分析儀器行業(yè)以 來(lái)，就以其分析速度快、準(zhǔn)確度高、對(duì)試樣無(wú)污染等優(yōu)點(diǎn)，在鋼鐵冶金、石油化工、地質(zhì)礦產(chǎn)、 文物鑒定、生物醫(yī)學(xué)等諸多領(lǐng)域得到了廣泛的作用。特別是歐盟RoHS指令的執(zhí)行，使其得 到了更廣泛的應(yīng)用。 能量色散X射線熒光光譜分析技術(shù)利用激發(fā)源產(chǎn)生X射線，照射到樣品上，激發(fā)出 樣品中所含元素的特征X射線，探測(cè)器接受特征X射...
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該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識(shí)儲(chǔ)備，不適合論文引用。