技術(shù)編號(hào)：9330328
提示：您尚未登錄，請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請(qǐng)點(diǎn) 注 冊(cè) ，登陸完成后，請(qǐng)刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。量子密鑰分配系統(tǒng)-也稱QKD-中的探測(cè)器工作原理框圖如圖1所示，探測(cè)器做出廠標(biāo)定的時(shí)候，預(yù)先標(biāo)定好探測(cè)APD管子的暗計(jì)數(shù)和各個(gè)探測(cè)效率下的VDC與VTH值，這些值被固化到存儲(chǔ)器上。由于探測(cè)在工作過程中，隨著環(huán)境溫度的變化，探測(cè)器的效率會(huì)發(fā)生漂移，如果環(huán)境變化幅度很大，探測(cè)效率會(huì)偏移很多。雖然我們可以對(duì)探測(cè)器進(jìn)行溫度控制，但是溫度控制的范圍和效果未必滿足要求。傳統(tǒng)探測(cè)器的做法是探測(cè)效率在出廠的時(shí)候?qū)?shù)進(jìn)行標(biāo)定，后期工作過程中不再修改，如果工作環(huán)境與標(biāo)定時(shí)候...
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該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識(shí)儲(chǔ)備，不適合論文引用。