技術(shù)編號：9373744
提示：您尚未登錄，請點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點(diǎn) 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明涉及輻射成像領(lǐng)域，特別是一種射線探測方法、裝置、探測器組件和射線探測器。背景技術(shù)在輻射成像安檢系統(tǒng)中一般采用線掃描成像方式，陣列探測器將透過被檢測物體的X射線或γ射線信號轉(zhuǎn)換為電信號。X射線與物質(zhì)發(fā)生作用，穿過被照物衰減后被探測器接收轉(zhuǎn)換成電信號并形成圖像。傳統(tǒng)單能X射線透視成像給出被照物在一個透視方向上的累積密度信息形成的圖像，不能給出物質(zhì)密度或物質(zhì)成分等其他信息。具有能譜分布的X射線穿透被檢物體后，能譜會發(fā)生變化，其變化與被檢物體的材料的原子序數(shù)...
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該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識儲備，不適合論文引用。