戒指調(diào)試器的制造方法
【專利摘要】本實(shí)用新型涉及戒指手寸調(diào)整技術(shù)，具體是一種戒指調(diào)試器。本實(shí)用新型解決了現(xiàn)有戒指手寸調(diào)整技術(shù)誤工誤時(shí)、容易導(dǎo)致戒指材料浪費(fèi)、容易影響戒指美觀的問(wèn)題。戒指調(diào)試器，包括比對(duì)部分和調(diào)試部分；所述比對(duì)部分包括軟尺體；軟尺體的首端固定有卡扣；軟尺體的外側(cè)面從首至尾設(shè)有多條比對(duì)刻度線；每條比對(duì)刻度線的刻度值均表示該條比對(duì)刻度線與軟尺體的首端之間的長(zhǎng)度值；所述調(diào)試部分包括圓臺(tái)體；圓臺(tái)體的側(cè)面開設(shè)有一道凹槽；凹槽的上端貫通圓臺(tái)體的上端面；凹槽的下端貫通圓臺(tái)體的下端面；凹槽的內(nèi)側(cè)面從上至下設(shè)有多條調(diào)試刻度線；每條調(diào)試刻度線的刻度值均表示與該條調(diào)試刻度線位置對(duì)應(yīng)的圓臺(tái)體的水平截面的周長(zhǎng)值。本實(shí)用新型適用于珠寶店。
【專利說(shuō)明】戒指調(diào)試器

【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001] 本實(shí)用新型涉及戒指手寸調(diào)整技術(shù)，具體是一種戒指調(diào)試器。

【背景技術(shù)】
[0002] 日常生活中，顧客在珠寶店選購(gòu)戒指時(shí)，倘若戒指的手寸（即戒指的內(nèi)圈周長(zhǎng)）與 手指的粗細(xì)不匹配，店內(nèi)工作人員便會(huì)采用戒指棒和尼龍錘對(duì)戒指的手寸進(jìn)行調(diào)整。在進(jìn) 行調(diào)整時(shí)，工作人員首先將戒指套在戒指棒上，然后采用尼龍錘敲擊戒指，由此使得戒指的 手寸發(fā)生改變。敲擊若干次后，將戒指從戒指棒上取下進(jìn)行試戴。如果戒指的手寸仍然未 能調(diào)整到位（即試戴后戒指的手寸與手指的粗細(xì)仍然不匹配)，則重復(fù)進(jìn)行上述敲擊過(guò)程。 如此反復(fù)，直至戒指的手寸完全調(diào)整到位（即試戴后戒指的手寸與手指的粗細(xì)完全匹配）為 止。然而實(shí)踐表明，上述戒指手寸調(diào)整方法由于自身原理所限，存在誤工誤時(shí)、容易導(dǎo)致戒 指材料浪費(fèi)、容易影響戒指美觀的問(wèn)題。具體而言，為了保證戒指的手寸完全調(diào)整到位，工 作人員通常需要反復(fù)進(jìn)行許多次敲擊過(guò)程，由此一方面導(dǎo)致誤工誤時(shí)，另一方面容易磨損 戒指的材料(通常為貴重金屬)，從而導(dǎo)致戒指材料浪費(fèi)，第三方面容易損傷戒指的雕紋、花 紋、光澤等，從而影響戒指的美觀?；诖耍斜匾l(fā)明一種全新的戒指手寸調(diào)整裝置，以解 決現(xiàn)有戒指手寸調(diào)整技術(shù)存在的上述問(wèn)題。


【發(fā)明內(nèi)容】

[0003] 本實(shí)用新型為了解決現(xiàn)有戒指手寸調(diào)整技術(shù)誤工誤時(shí)、容易導(dǎo)致戒指材料浪費(fèi)、 容易影響戒指美觀的問(wèn)題，提供了一種戒指調(diào)試器。
[0004] 本實(shí)用新型是采用如下技術(shù)方案實(shí)現(xiàn)的：戒指調(diào)試器，包括比對(duì)部分和調(diào)試部分； 所述比對(duì)部分包括軟尺體；軟尺體的首端固定有卡扣；軟尺體的外側(cè)面從首至尾設(shè)有多條 比對(duì)刻度線；每條比對(duì)刻度線的刻度值均表示該條比對(duì)刻度線與軟尺體的首端之間的長(zhǎng)度 值；所述調(diào)試部分包括圓臺(tái)體；圓臺(tái)體的側(cè)面開設(shè)有一道凹槽；凹槽的上端貫通圓臺(tái)體的 上端面；凹槽的下端貫通圓臺(tái)體的下端面；凹槽的內(nèi)側(cè)面從上至下設(shè)有多條調(diào)試刻度線； 每條調(diào)試刻度線的刻度值均表示與該條調(diào)試刻度線位置對(duì)應(yīng)的圓臺(tái)體的水平截面的周長(zhǎng) 值。
[0005] 使用時(shí)，倘若戒指的手寸（即戒指的內(nèi)圈周長(zhǎng)）與手指的粗細(xì)不匹配，則采用本實(shí) 用新型所述的戒指調(diào)試器和尼龍錘對(duì)戒指的手寸進(jìn)行調(diào)整。具體調(diào)整過(guò)程如下：首先，將軟 尺體的尾端穿入卡扣內(nèi)，并將軟尺體緊箍在手指上。此時(shí)，與卡扣對(duì)齊的某一條比對(duì)刻度線 的刻度值即為手指的周長(zhǎng)值。然后，從多條調(diào)試刻度線中找出其刻度值與手指的周長(zhǎng)值相 等的某一條調(diào)試刻度線，并將戒指套在圓臺(tái)體上。隨后，采用尼龍錘敲擊戒指，使得戒指與 該條調(diào)試刻度線對(duì)齊，由此一次性將戒指的手寸完全調(diào)整到位，從而使得戒指的手寸與手 指的粗細(xì)完全匹配。在此過(guò)程中，由于調(diào)試刻度線設(shè)于凹槽的內(nèi)側(cè)面，使得在敲擊過(guò)程中戒 指不會(huì)磨損調(diào)試刻度線，由此有效保護(hù)了調(diào)試刻度線?；谏鲜鲞^(guò)程，與現(xiàn)有戒指手寸調(diào)整 技術(shù)相比，本實(shí)用新型所述的戒指調(diào)試器一方面通過(guò)軟尺體和比對(duì)刻度線對(duì)手指的周長(zhǎng)值 進(jìn)行比對(duì)，另一方面通過(guò)圓臺(tái)體和調(diào)試刻度線對(duì)戒指的手寸進(jìn)行調(diào)整，由此實(shí)現(xiàn)了一次性 將戒指的手寸完全調(diào)整到位，從而一方面變得省工省時(shí)，另一方面有效避免了磨損戒指的 材料，從而有效避免了戒指材料浪費(fèi)，第三方面有效避免了損傷戒指的雕紋、花紋、光澤等， 從而有效保證了戒指的美觀。
[0006] 本實(shí)用新型結(jié)構(gòu)合理、設(shè)計(jì)巧妙，有效解決了現(xiàn)有戒指手寸調(diào)整技術(shù)誤工誤時(shí)、容 易導(dǎo)致戒指材料浪費(fèi)、容易影響戒指美觀的問(wèn)題，適用于珠寶店。

【專利附圖】

【附圖說(shuō)明】
[0007] 圖1是本實(shí)用新型的比對(duì)部分的結(jié)構(gòu)示意圖。
[0008] 圖2是本實(shí)用新型的調(diào)試部分的結(jié)構(gòu)示意圖。
[0009] 圖中：1-軟尺體，2-卡扣，3-比對(duì)刻度線，4-圓臺(tái)體，5-凹槽，6-調(diào)試刻度線。

【具體實(shí)施方式】
[〇〇1〇] 戒指調(diào)試器，包括比對(duì)部分和調(diào)試部分；所述比對(duì)部分包括軟尺體1 ;軟尺體1的 首端固定有卡扣2 ;軟尺體1的外側(cè)面從首至尾設(shè)有多條比對(duì)刻度線3 ;每條比對(duì)刻度線3 的刻度值均表示該條比對(duì)刻度線3與軟尺體1的首端之間的長(zhǎng)度值；所述調(diào)試部分包括圓 臺(tái)體4 ;圓臺(tái)體4的側(cè)面開設(shè)有一道凹槽5 ;凹槽5的上端貫通圓臺(tái)體4的上端面；凹槽5的 下端貫通圓臺(tái)體4的下端面；凹槽5的內(nèi)側(cè)面從上至下設(shè)有多條調(diào)試刻度線6 ;每條調(diào)試刻 度線6的刻度值均表示與該條調(diào)試刻度線6位置對(duì)應(yīng)的圓臺(tái)體4的水平截面的周長(zhǎng)值。 [0011] 具體實(shí)施時(shí)，軟尺體1、圓臺(tái)體4均采用金屬制成。
【權(quán)利要求】
1. 一種戒指調(diào)試器，其特征在于：包括比對(duì)部分和調(diào)試部分；所述比對(duì)部分包括軟尺 體（1);軟尺體（1)的首端固定有卡扣（2);軟尺體（1)的外側(cè)面從首至尾設(shè)有多條比對(duì)刻度 線（3);每條比對(duì)刻度線（3)的刻度值均表示該條比對(duì)刻度線（3)與軟尺體（1)的首端之間 的長(zhǎng)度值；所述調(diào)試部分包括圓臺(tái)體（4);圓臺(tái)體（4)的側(cè)面開設(shè)有一道凹槽（5);凹槽（5) 的上端貫通圓臺(tái)體（4)的上端面；凹槽（5)的下端貫通圓臺(tái)體（4)的下端面；凹槽（5)的內(nèi) 側(cè)面從上至下設(shè)有多條調(diào)試刻度線（6);每條調(diào)試刻度線（6)的刻度值均表示與該條調(diào)試刻 度線（6)位置對(duì)應(yīng)的圓臺(tái)體（4)的水平截面的周長(zhǎng)值。
【文檔編號(hào)】A44C9/02GK203884881SQ201420320185
【公開日】2014年10月22日 申請(qǐng)日期:2014年6月17日 優(yōu)先權(quán)日:2014年6月17日
【發(fā)明者】吳三社 申請(qǐng)人:吳三社