專利名稱：光學(xué)相干斷層攝像設(shè)備的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及光學(xué)相干斷層攝像設(shè)備，例如，用于眼科診斷等的光學(xué)相干斷層攝像設(shè)備。
背景技術(shù)：
目前，已知各種使用光學(xué)設(shè)備的眼科設(shè)備。例如，前眼部攝像設(shè)備、眼底照相機及SLO(掃描激光檢眼鏡)等各種設(shè)備用作用于觀察被檢眼的光學(xué)設(shè)備。在這些設(shè)備中，基于使用多波長光波相干的OCT(光學(xué)相干斷層成像技術(shù))的光學(xué)相干斷層攝像設(shè)備能夠以高分辨率獲得樣本的斷層圖像。這種設(shè)備作為眼科設(shè)備對視網(wǎng)膜?？崎T診變得不可或缺。以下將這種設(shè)備稱為OCT設(shè)備。OCT設(shè)備利用作為低相干光的測量光照射樣本，并能通過使用干涉系統(tǒng)或干涉光學(xué)系統(tǒng)對來自樣本的背散射光進行高靈敏度測量。低相干光具有能通過增加波長寬度獲得高分辨率的斷層圖像的屬性。另外，OCT設(shè)備能通過在樣本上掃描測量光來獲得高分辨率的斷層圖像。因此，OCT設(shè)備能獲得被檢眼眼底處的視網(wǎng)膜的斷層圖像，因而已廣泛地用于對視網(wǎng)膜的眼科診斷等。另一方面，作為眼科設(shè)備的OCT設(shè)備通常配備有用于眼底觀察和前眼部觀察等的光學(xué)系統(tǒng)，以在該設(shè)備與被檢體之間實施對準調(diào)節(jié)。為了將OCT設(shè)備與這些光學(xué)系統(tǒng)一起使用，將該設(shè)備配置為:針對各個光學(xué)系統(tǒng)使用不同波長的光、以及通過使用分色鏡等波長分離單元來進行波長分離。然而，由于將具有波長寬度的低相干光用于OCT設(shè)備，因此，難以將用于眼底觀察、前眼部觀察等的光學(xué)系統(tǒng)所使用的光的波長與OCT設(shè)備所使用的光的波長相分尚。根據(jù)美國專利5，537，162，將光束掃描器位置設(shè)置在透鏡的后焦面上，以使得即使在進行光束掃描時， 光束在分色鏡上的入射角也是不變的。這能夠統(tǒng)一分色鏡的特性并增加波長分離的精度。然而，根據(jù)美國專利5，537，162，當(dāng)對被檢眼的眼底進行焦點調(diào)節(jié)時，光束掃描器和透鏡被一起驅(qū)動。后焦面被設(shè)置在光束掃描器處的透鏡趨于增大尺寸以捕獲來自光束掃描器的掃描光。因此，需要將光束掃描器與大透鏡一起移動。這增加了驅(qū)動機構(gòu)的復(fù)雜性。另外，由于光束掃描器與大透鏡一起移動，因此，需要同時移動與眼底位置光學(xué)共軛的測量光源。如果該測量光源位于光纖的末端，則需要移動光纖。這可能改變偏振狀態(tài)。

發(fā)明內(nèi)容
考慮到上述問題，本發(fā)明提供了如下光學(xué)相干斷層攝像設(shè)備，該光學(xué)相干斷層攝像設(shè)備能簡化驅(qū)動結(jié)構(gòu)并減少因測量光源的移動等導(dǎo)致的偏振狀態(tài)的改變。根據(jù)本發(fā)明的一個方面，提供一種光學(xué)相干斷層攝像設(shè)備，用于基于通過對來自經(jīng)由第一透鏡被測量光照射的被檢體的返回光和與所述測量光相對應(yīng)的參考光進行合成所獲得的光來獲得所述被檢體的斷層圖像，所述光學(xué)相干斷層攝像設(shè)備包括:掃描單元，其設(shè)置在所述測量光的光路上，并且用于在所述被檢體上掃描所述測量光；第二透鏡，其設(shè)置在所述測量光的光路上的所述掃描單元與所述第一透鏡之間；以及光路分支單元，其設(shè)置在所述第一透鏡與所述第二透鏡之間，并且用于從所述測量光的光路分支出用于觀察所述被檢體的觀察光路，其中，設(shè)置所述第二透鏡和所述掃描單元，從而保持由所述掃描單元掃描的測量光在所述光路分支單元上的入射角。根據(jù)本發(fā)明的一個方面，提供一種光學(xué)相干斷層攝像設(shè)備，所述光學(xué)相干斷層攝像設(shè)備包括光路分支單元，所述光路分支單元用于從測量光的光路分支出用于觀察被檢體的觀察光路，并且所述光學(xué)相干斷層攝像設(shè)備用于基于通過對來自經(jīng)由第一透鏡被來自所述光路分支單元的測量光照射的被檢體的返回光和與所述測量光相對應(yīng)的參考光進行合成所獲得的光來獲得所述被檢體的斷層圖像，所述光學(xué)相干斷層攝像設(shè)備還包括:掃描單元，其設(shè)置在所述測量光的光路上，并且用于在所述被檢體上掃描所述測量光；以及第二透鏡，其相對于所述掃描單元以保持由所述掃描單元掃描的測量光在所述光路分支單元上的入射角的方式設(shè)置在所述測量光的光路上。根據(jù)下面參考附圖對典型實施例的描述，本發(fā)明的其它特征將變得明顯。


圖1是示出根據(jù)第一實施例的光學(xué)相干斷層攝像設(shè)備的示意性配置的圖。圖2是示出根據(jù)該第一實施例的光學(xué)相干斷層攝像設(shè)備中的瞳孔光束的圖。圖3是示出如何在X方向上掃描被檢眼的圖。圖4是示出在監(jiān)視器上顯示的前眼部圖像、二維眼底圖像以及B掃描圖像的圖。圖5是示出根據(jù)第二實施例的光學(xué)相干斷層攝像設(shè)備的示意性配置的圖。圖6是示出 根據(jù)該第二實施例的光學(xué)相干斷層攝像設(shè)備中的瞳孔光束的圖。
具體實施例方式現(xiàn)在將參考附圖詳細描述本發(fā)明的典型實施例。應(yīng)當(dāng)注意的是，除特別說明之外，這些實施例中說明的組件的相對配置、數(shù)字表達式以及數(shù)值并不限制本發(fā)明的范圍。下面將參考附圖描述本實施例。注意，在說明書中相同的附圖標記表示相同的構(gòu)成元件。第一實施例:0CT光學(xué)系統(tǒng)<設(shè)備配置>參考圖1來描述根據(jù)第一實施例的光學(xué)相干斷層攝像設(shè)備(0CT設(shè)備)的配置。光學(xué)相干斷層攝像設(shè)備包括光學(xué)頭900和分光器180。光學(xué)相干斷層攝像設(shè)備基于通過合成來自被檢體的返回光和與測量光相對應(yīng)的參考光所獲得的光來獲得被檢體的斷層圖像，其中，經(jīng)由掃描單元利用測量光照射被檢體。首先描述光學(xué)頭900的內(nèi)部配置。光學(xué)頭900由用于拍攝被檢眼100的前眼部圖像以及眼底的二維圖像和斷層圖像的測量光學(xué)系統(tǒng)構(gòu)成。物鏡101-1面向被檢眼100設(shè)置。在該透鏡101-1的光軸上，用作光路分支單元的第一分色鏡102和第二分色鏡103分離光路。即，第一分色鏡102和第二分色鏡103針對每個波長帶將光路分離為OCT光學(xué)系統(tǒng)的測量光路L1、眼底觀察光路/固視燈光路L2以及前眼部觀察光路L3。
第三分色鏡104針對每個波長帶將光路L2進一步分支為至眼底觀察用CXDl 14的光路以及至固視燈113的光路。在這種情況下，在透鏡101-2、透鏡111和透鏡112中，透鏡111由馬達(未示出)驅(qū)動以進行固視燈和眼底觀察用的焦點調(diào)節(jié)。CCD114在眼底觀察照明光(未示出)的波長、更具體地、780nm附近具有靈敏度。另一方面，固視燈113生成可見光以促使被檢體固視。將用于前眼部觀察的透鏡141和紅外線(XD142設(shè)置于光路L3上。紅外線(XD142在前眼部觀察照明光(未示出)的波長、更具體地、970nm附近具有靈敏度。如上所述，光路LI形成OCT光學(xué)系統(tǒng)，并用于拍攝被檢眼100眼底的斷層圖像。更具體地，該光路用于獲得形成斷層圖像的干涉光。將透鏡101-3、鏡121以及用作掃描單兀的X掃描器122-1 (第一掃描單兀)和Y掃描器122-2 (第二掃描單兀)設(shè)置在光路LI上。X掃描器122-1和Y掃描器122-2在被檢眼100的眼底上沿作為第一方向的例子的X方向(主掃描方向)和作為與第一方向相交的第二方向的例子的Y方向(副掃描方向)掃描光。注意，圖1中的X掃描器122-1和Y掃描器122-2之間的光路在平行于紙面的方向行進。然而實際上，該光路在垂直于紙面的方向行進。將參考圖2描述光路LI上的詳細配置、光路LI與瞳孔位置之間的共軛關(guān)系以及穿過瞳孔的光束。與被檢眼的前眼部等預(yù)定區(qū)域共軛的位置位于第一掃描單元和第二掃描單元之間。在本實施例中，X掃描器122-1和Y掃描器122-2之間的掃描器中心位置127與被檢眼100的瞳孔位置128共軛。配置透鏡101-1 (第一透鏡)、透鏡101-3 (第二透鏡)以及X掃描器122-1和Y掃描器122-2 (或者掃描器中心位置127)，以使透鏡101-1和透鏡101-3之間的光束變得幾乎平行。根據(jù)該配置，將測量光偏轉(zhuǎn)單元用作物點的光路在透鏡101-1與透鏡101-3之間變得幾乎平行。將掃描器中心位置127定位于透鏡101-3的焦點位置處。這能夠使得即使在X掃描器122-1和Y掃描器122-2執(zhí)行掃描時,光在第一分色鏡102的入射角與光在第二分色鏡103上的入射角也是相一致的。測量光源126是使測量光入射測量光路的測量光用的光源。在本實施例中，將測量光源126配置在光纖的末端、并配置成與被檢眼100的眼底區(qū)域光學(xué)共軛。在透鏡123和透鏡124中，透鏡1 23由馬達(未示出)沿雙頭箭頭指示的方向驅(qū)動以進行焦點調(diào)節(jié)。通過調(diào)節(jié)從光纖末端上的測量光源126發(fā)出的光以將光聚焦在眼底上來進行焦點調(diào)節(jié)。將作為焦點調(diào)節(jié)單元的透鏡123設(shè)置在測量光源126與用作測量光偏轉(zhuǎn)單元的X掃描器122-1和Y掃描器122-2之間。這使得不需要使用比透鏡101-3大的透鏡或者移動連接到測量光源126的光纖125-2。焦點調(diào)節(jié)使得可以在被檢眼100的眼底上形成測量光源126的像、且可以將來自被檢眼100的眼底的返回光經(jīng)測量光源126有效地返回至光纖125-2。接著將描述圖1中的從光源130發(fā)出的光的光路配置、參考光學(xué)系統(tǒng)以及分光器180。光源130、鏡153、色散補償玻璃152、光學(xué)耦合器125、光纖125-1至125-4、透鏡151以及分光器180構(gòu)成了 Michelson干涉儀系統(tǒng)。光纖125-1至125-4為連接至光學(xué)耦合器125從而一體化的單模光纖。從光源130發(fā)出的光被分離為經(jīng)光纖125-1和光學(xué)耦合器125出射至光纖125_2的測量光、以及出射至光纖125-3的參考光。測量光經(jīng)上述OCT光學(xué)系統(tǒng)光路入射到作為觀察對象的被檢眼100的眼底，并通過視網(wǎng)膜的反射和散射經(jīng)相同的光路到達光學(xué)耦合器125。另一方面，參考光經(jīng)光纖125-3、透鏡151以及為了使測量光的色散與參考光的色散相匹配而插入的色散補償玻璃152，到達鏡153并由鏡153反射。光學(xué)耦合器125將測量光和參考光合成以形成干涉光。在這種情況下，當(dāng)測量光的光路長度變得與參考光的光路長度基本相等時，發(fā)生干涉。馬達和驅(qū)動機構(gòu)(未示出)以沿光軸方向調(diào)整鏡153的位置的方式保持鏡153，從而將基于被檢眼100而變化的測量光的光路長度與參考光的光路長度相匹配。干涉光經(jīng)光纖125-4被引導(dǎo)至分光器180。分光器180包括透鏡181、衍射光柵182、透鏡183以及線傳感器184。經(jīng)過透鏡181使從光纖125-4出射的干涉光幾乎平行，然后由衍射光柵182進行分光。透鏡183使光在線傳感器184上成像。接下來將描述光源130。光源130是作為典型的低相干光源的SLD(SuperLuminescent Diode,超發(fā)光二極管)。中心波長為855nm,波長帶寬度約為lOOnm。在這種情況下，波長帶寬度成為影響所獲得的斷層圖像在光軸方向的分辨率的重要參數(shù)。另外，在這種情況下，將SLD選為光源。然而，可以使用ASE(Amplified Spontaneous Emission,放大自發(fā)射)等，只要其能發(fā)出低相干光即可。考慮到被檢眼的測量，紅外線的波長適合作為要設(shè)定的中心波長。另外，由于中心波長影響獲得的斷層圖像在水平方向的分辨率，因此，優(yōu)選中心波長盡量短。由于上述兩個原因，將中心波長設(shè)置為855nm。盡管本實施例使用Michelson干涉儀作為干涉儀,但也可以使用Mach-Zehnder干涉儀。在測量光與參考光之間光量差大的情況下優(yōu)選使用Mach-Zehnder干涉儀，在測量光與參考光之間光量差相對小的情況下優(yōu)選使用Michelson干涉儀。〈拍攝斷層圖像的方法〉光學(xué)相干斷層攝像設(shè)備可以通過控制X掃描器122-1和Y掃描器122_2來拍攝被檢眼100的眼底的期望 區(qū)域的斷層圖像。圖3示出如何用測量光201照射被檢眼100以沿X方向掃描眼底202。線傳感器184從眼底202的在X方向上的攝像范圍拍攝與預(yù)定數(shù)量的攝像線相對應(yīng)的信息。對X方向上的既定位置處所獲得的線傳感器184上的亮度分布進行FFT(Fast FourierTransformed,快速傅立葉變換)。由FFT將所獲得的線性亮度分布轉(zhuǎn)換成濃度或顏色信息而獲得的用于在監(jiān)視器上顯示的圖像稱為A-掃描圖像。將通過排列多個A掃描圖像而獲得的二維圖像稱為B掃描圖像?？梢酝ㄟ^如下方式獲得多個B掃描圖像:首先拍攝用于構(gòu)成一個B掃描圖像的多個A掃描圖像，然后在移動y方向上的掃描位置的情況下再次進行沿X方向的掃描。通過在監(jiān)視器上顯示多個B掃描圖像或由多個B掃描圖像構(gòu)成的三維斷層圖像，使得檢查者能夠使用上述圖像對眼睛進行診斷。圖4示出在監(jiān)視器200上顯示的前眼部圖像210、二維眼底圖像211以及作為斷層圖像的B掃描圖像212的例子。前眼部圖像210是從紅外線(XD142輸出、被處理并顯示的圖像。二維眼底圖像211是從(XD114輸出、被處理并顯示的圖像。B掃描圖像212是從線傳感器184輸出并通過上述處理形成的圖像。如上所述，根據(jù)本實施例，在光學(xué)相干斷層攝像設(shè)備中，將用于被檢眼焦點調(diào)節(jié)的焦點調(diào)節(jié)單元(透鏡123和驅(qū)動機構(gòu)(未示出))設(shè)置在用于偏轉(zhuǎn)測量光的測量光偏轉(zhuǎn)單元(XY掃描器)與測量光源126之間。另外，將第一透鏡(透鏡101-1)和第二透鏡(透鏡101-3)設(shè)置在測量光偏轉(zhuǎn)單元(XY掃描器)與被檢眼100之間的測量光路上，并將光路分支單元(第一分色鏡102和第二分色鏡103)設(shè)置在第一透鏡和第二透鏡之間。S卩，通過將調(diào)焦透鏡配置在光纖末端上的測量光源與作為測量光偏轉(zhuǎn)單元的XY掃描器之間，來消除移動透鏡101-3和連接到測量光源126的光纖125-2等的必要。這能夠簡化驅(qū)動機構(gòu)。另外，由于不存在移動光纖末端的需要，因此，可以提供能保持偏振狀態(tài)的光學(xué)相干斷層攝像設(shè)備。另外，根據(jù)本實施例，在光學(xué)相干斷層攝像設(shè)備中，在位置調(diào)整的情況下配置第一透鏡(透鏡101-1)、第二透鏡(透鏡101-3)以及測量光偏轉(zhuǎn)單元(XY掃描器)，以使得光在第一透鏡(透鏡101-1)與第二透鏡(透鏡101-3)之間的測量光路上平行。這能使光束在第一分色鏡102和第二分色鏡103上的入射角不變，并提高波長分離的精確度。盡管本實施例針對被檢眼進行了描述，但也可以掃描皮膚或者器官等除被檢眼之外的被檢體。本發(fā)明可以應(yīng)用于諸如內(nèi)窺鏡等的除眼科設(shè)備之外的攝像設(shè)備。此外，可將本實施例中的每個透鏡配置為球面透鏡或非球面透鏡。第二實施例:SL0光學(xué)系統(tǒng).
<設(shè)備配置>參考圖5來描述根據(jù)第二實施例的光學(xué)相干斷層攝像設(shè)備(0CT設(shè)備)的配置。與第一實施例中相同，光學(xué)相干斷層攝像設(shè)備包括光學(xué)頭900和分光器180。在第一實施例中，形成光路L2以使得用于眼底觀察的(XD114獲得被檢眼100的二維眼底圖像。與之相對，在第二實施例中，在光路L2上設(shè)置X掃描器和Y掃描器，且形成光路L2以通過在眼底上掃描光點來獲得二維眼底圖像。光路LI和L3上的配置以及分光器180的配置與第一實施例中的相同，因此，省略對上述配置的描述。以下主要描述與第一實施例中不同的光路L2的配置。透鏡101-2、111和112與第一實施例中的相同。用于針對眼底觀察進行焦點調(diào)節(jié)的馬達(未示出)驅(qū)動透鏡111。光源115生成波長為780 nm的光。將用于在被檢眼100的眼底上掃描從眼底觀察用的光源115發(fā)出的光的X掃描器117-1 (第一觀察掃描單兀)和Y掃描器117-2 (第二觀察掃描單兀)設(shè)置在光路L2上。設(shè)置透鏡101-2 (第三透鏡)以使其焦點位置處于X掃描器117-1與Y掃描器117-2之間的中心位置附近。X掃描器117-1由多面鏡構(gòu)成以沿X方向進行高速掃描。X掃描器117-1也可以由共振鏡構(gòu)成。單個檢測器116由APD(avalanche photodiode,雪崩光電二極管)構(gòu)成，用于檢測由眼底散射/反射的光。棱鏡118是設(shè)置有穿孔鏡或中空鏡的棱鏡，用于分離從光源115發(fā)出的照明光以及來自眼底的返回光。圖6示出瞳孔位置與光路L1、光路L2以及來自瞳孔的光束之間的共軛關(guān)系。光路LI與第一實施例中的相同，因此，省略對光路LI的描述。在光路L2上，X掃描器117-1和Y掃描器117-2之間的掃描器中心位置119與被檢眼100的瞳孔位置128共軛。設(shè)置透鏡101-2和(X掃描器117-1與Y掃描器117-2之間的)掃描器中心位置119，以使光束在透鏡101-1與透鏡101-2之間幾乎平行。掃描器中心位置119定位于透鏡101-2的焦點位置處?；谶@種配置，以測量光偏轉(zhuǎn)單元用作物點的光路在透鏡101-1和透鏡101-2之間變得幾乎平行。這能夠使得即使在X掃描器117-1和Y掃描器117-2進行掃描時，光在第一分色鏡102上的入射角與光在第二分色鏡103上的入射角也是相一致的。形成光路LI和光路L2以使光路LI和光路L2共用透鏡101_1。透鏡101-2和透鏡101-3由具有相同大小的透鏡構(gòu)成、且由相同的材料制成。這使得從被檢眼100至光路LI和L2上的X掃描器和Y掃描器能使用相同的光學(xué)系統(tǒng)，從而能統(tǒng)一兩條光路上的光學(xué)特性。在這種情況下，如圖6中所示，使Θ成為來自被檢眼100的瞳孔的光束相對于瞳孔的擴展角、使Θ I成為來自瞳孔的光束相對于掃描器中心位置127的擴展角、并使Θ2成為來自瞳孔的光束相對于掃描器中心位置119的擴展角。即，假設(shè)掃描器為光束提供角Θ 1、Θ 2以在兩條光路L1、L2上獲得來自瞳孔的光束的擴展角Θ。另外,可以在兩條光路上統(tǒng)一掃描器中心位置119處相對于瞳孔位置128的光學(xué)倍率、以及掃描器中心位置127處相對于瞳孔位置128的光學(xué)倍率，其中，光學(xué)倍率為光學(xué)特性的其中一個特性。結(jié)果，可以在兩條光路上統(tǒng)一各條光路上的X掃描器和Y掃描器的掃描角度與被檢眼100眼底上的照射位置之間的關(guān)系。這樣可以設(shè)置Θ1=Θ2。這使得可以減少各個掃描位置之間的誤差。如上所述，根據(jù)本實施例，在光學(xué)相干斷層攝像設(shè)備中，可以通過使光束在分色鏡上的入射角恒定提高波長分離的精度。另外，通過在光纖末端上的照射光源與XY掃描器之間設(shè)置調(diào)焦透鏡，可以簡化驅(qū)動機構(gòu)。此外，由于不需要移動照射光源，因此，可以提供能保持偏振狀態(tài)的光學(xué)相干斷層攝像設(shè)備。并且，通過在OCT的測量光路和眼底觀察光路上使用相同的透鏡，可以減少測量誤差。其它實施例還可以通過讀出并執(zhí)行記錄在存儲器裝置上的程序以進行上述實施例的功能的系統(tǒng)或設(shè)備的計算機(或者CPU或MPU等裝置)和通過下面的方法來實現(xiàn)本發(fā)明的各方面，其中，系統(tǒng)或設(shè)備的計算機通過例如讀出并執(zhí)行記錄在存儲器裝置上的程序以進行上述實施例的功能來進行上述方法的各步驟。針對該目的，例如經(jīng)由網(wǎng)絡(luò)或者從用作存儲器裝置的各種類型的記錄介質(zhì)(例如，計算機可讀介質(zhì))將該程序提供給計算機。

盡管已經(jīng)參考典型實施例說明了本發(fā)明，但是應(yīng)該理解，本發(fā)明不限于所公開的典型實施例。所附權(quán)利要求書的范圍符合最寬的解釋，以包含所有修改、等同結(jié)構(gòu)和功能。
權(quán)利要求
1.一種光學(xué)相干斷層攝像設(shè)備，用于基于通過對來自經(jīng)由第一透鏡被測量光照射的被檢體的返回光和與所述測量光相對應(yīng)的參考光進行合成所獲得的光來獲得所述被檢體的斷層圖像，所述光學(xué)相干斷層攝像設(shè)備包括: 掃描單元，其設(shè)置在所述測量光的光路上，并且用于在所述被檢體上掃描所述測量光; 第二透鏡，其設(shè)置在所述測量光的光路上的所述掃描單元與所述第一透鏡之間；以及 光路分支單元，其設(shè)置在所述第一透鏡與所述第二透鏡之間，并且用于從所述測量光的光路分支出用于觀察所述被檢體的觀察光路， 其中，設(shè)置所述第二透鏡和所述掃描單元，從而保持由所述掃描單元掃描的測量光在所述光路分支單元上的入射角。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的光學(xué)相干斷層攝像設(shè)備，其中，所述掃描單元包括用于在所述被檢體上沿第一方向掃描所述測量光的第一掃描單元、以及用于沿與所述第一方向交叉的第二方向掃描所述測量光的第二掃描單元，以及 將與所述被檢體的預(yù)定區(qū)域共軛的位置設(shè)置在所述第一掃描單元與所述第二掃描單元之間。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的光學(xué)相干斷層攝像設(shè)備，其中，還包括: 分割單元，用于將從光源發(fā)射出的光分割為所述測量光和所述參考光；以及 調(diào)焦透鏡，其設(shè)置在所述測量光的光路上的所述分割單元與所述掃描單元之間。
4.根據(jù)權(quán)利要求 3所述的光學(xué)相干斷層攝像設(shè)備，其中，還包括驅(qū)動單元，所述驅(qū)動單元用于沿所述測量光的光路驅(qū)動所述調(diào)焦透鏡。
5.根據(jù)權(quán)利要求3所述的光學(xué)相干斷層攝像設(shè)備，其中，還包括設(shè)置在所述測量光的光路上的光纖， 其中，所述分割單元包括連接至所述光纖的光學(xué)耦合器，以及 所述調(diào)焦透鏡設(shè)置在所述光纖的末端與所述掃描單元之間。
6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的光學(xué)相干斷層攝像設(shè)備，其中，設(shè)置所述第一透鏡、所述第二透鏡以及所述掃描單元，以使光在所述第一透鏡與所述第二透鏡之間的所述測量光的光路上平行。
7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的光學(xué)相干斷層攝像設(shè)備，其中，還包括: 觀察掃描單元，用于在所述被檢體上掃描從觀察光源發(fā)射出的觀察光；以及 第三透鏡，其設(shè)置在所述觀察光路上的所述觀察掃描單元與所述被檢體之間。
8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的光學(xué)相干斷層攝像設(shè)備，其中，所述觀察掃描單元包括用于在所述被檢體上沿第一方向掃描所述觀察光的第一觀察掃描單元、以及用于沿與所述第一方向交叉的第二方向掃描所述觀察光的第二觀察掃描單元，以及 將與所述被檢體的預(yù)定區(qū)域共軛的位置設(shè)置在所述第一觀察掃描單元與所述第二觀察掃描單元之間。
9.根據(jù)權(quán)利要求7所述的光學(xué)相干斷層攝像設(shè)備，其中，設(shè)置所述第一透鏡、所述第三透鏡以及所述觀察掃描單元，以使光在所述第一透鏡與所述第三透鏡之間的所述觀察光的光路上平行。
10.一種光學(xué)相干斷層攝像設(shè)備，所述光學(xué)相干斷層攝像設(shè)備包括光路分支單元，所述光路分支單元用于從測量光的光路分支出用于觀察被檢體的觀察光路，并且所述光學(xué)相干斷層攝像設(shè)備用于基于通過對來自經(jīng)由第一透鏡被來自所述光路分支單元的測量光照射的被檢體的返回光和與所述測量光相對應(yīng)的參考光進行合成所獲得的光來獲得所述被檢體的斷層圖像，所述光學(xué)相干斷層攝像設(shè)備還包括: 掃描單元，其設(shè)置在所述測量光的光路上，并且用于在所述被檢體上掃描所述測量光；以及 第二透鏡，其相對于所述掃描單元以保持由所述掃描單元掃描的測量光在所述光路分支單元上的入射角的方式設(shè)置在所述測量光的光路上。
11.根據(jù)權(quán)利要求10所述的光學(xué)相干斷層攝像設(shè)備，其中，還包括用于將來自光源的光分割為所述測量光和所 述參考光的分割單元。
全文摘要
一種光學(xué)相干斷層攝像設(shè)備，所述光學(xué)相干斷層攝像設(shè)備基于通過結(jié)合來自被檢體的返回光和參考光所獲得光來獲得所述被檢體的斷層圖像，其中所述被檢體被經(jīng)過第一透鏡的測量光照射，所述參考光與所述測量光相對應(yīng)，所述光學(xué)相干斷層攝像設(shè)備包括掃描單元，設(shè)置在所述測量光的光路上，用于掃描所述被檢體上的測量光；第二透鏡，設(shè)置在所述掃描單元與所述測量光的光路上的所述第一透鏡之間；光路分支單元，設(shè)置在所述第一透鏡與所述第二透鏡之間，用于使所述測量光的光路分支出用于觀察所述被檢體的觀察光路；其中，設(shè)置所述第二透鏡和所述掃描單元，以保持由所述掃描單元掃描的測量光在所述光路分支單元上的入射角。
文檔編號A61B3/15GK103222852SQ201310030480
公開日2013年7月31日 申請日期2013年1月25日 優(yōu)先權(quán)日2012年1月26日
發(fā)明者吉田拓史 申請人:佳能株式會社