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      高度量測裝置及其方法

      文檔序號:8401428閱讀:359來源:國知局
      高度量測裝置及其方法
      【技術(shù)領(lǐng)域】
      [0001]本發(fā)明涉及一種高度量測裝置與其方法,特別是涉及一種應(yīng)用激光測距的高度量測裝置與其方法。
      【背景技術(shù)】
      [0002]一般市面上量測身高的儀器包括:手動身高測量計、電子身高體重秤、嬰兒身長計、機(jī)械式身高體重秤、BMI身高體重計等。為了準(zhǔn)確量得身高,在使用身高體重計的時候,往往需要由旁人協(xié)助操作。此外,為了能適用于所有人,身高體重計通常需要比人還要高,因此會具有很大的體積,而不便于攜帶使用。

      【發(fā)明內(nèi)容】

      [0003]有鑒于以上的問題,本發(fā)明提出一種高度量測裝置與其方法,此高度量測裝置以激光測距法量測第一長度(天花板的高度)與關(guān)于天花板以及待測物的第二長度,而后依據(jù)第一長度與第二長度可以計算待測物的高度。此高度量測裝置無需占用非常大的空間,而可以被整合至體重計中,因此便于攜帶并運用于具有天花板的環(huán)境。
      [0004]依據(jù)本發(fā)明一實施例的一種高度量測方法,適用于具有第一反射面的環(huán)境,此高度量測方法包含沿第一光徑發(fā)射第一激光至第一反射面。判斷是否接收到對應(yīng)于第一激光的第一反射光,其中第一反射光直接反射于第一反射面。若接收到第一反射光,依據(jù)對應(yīng)于第一反射光的第一數(shù)據(jù),計算第一長度值。沿第二光徑發(fā)射第二激光,第二激光被第一反射面反射至待測物。判斷是否接收到對應(yīng)于第二激光的第二反射光,其中第二反射光是被待測物與第一反射面所反射。若接收到第二反射光,依據(jù)對應(yīng)于第二反射光的第二數(shù)據(jù),計算第二長度值。并且,至少依據(jù)第一長度值與第二長度值,計算待測物的待測物高度。
      [0005]依據(jù)本發(fā)明一實施例的一種高度量測裝置,適用于具有反射面的環(huán)境,此高度量測裝置包含基板、至少一個激光發(fā)射模塊、至少一個光檢測模塊與控制模塊?;寰哂谢迳媳砻?,用以承載待測物。激光發(fā)射模塊配置于基板上表面的發(fā)射位置,用以沿第一光徑發(fā)射第一激光至天花板,并沿第二光徑發(fā)射第二激光,第二激光被天花板反射至待測物。光檢測模塊配置于基板上表面的檢測位置,用以判斷是否接收到對應(yīng)于第一激光的第一反射光與對應(yīng)于第二激光的第二反射光,以選擇性地產(chǎn)生對應(yīng)于第一反射光的第一數(shù)據(jù)與對應(yīng)于第二反射光的第二數(shù)據(jù),其中第一反射光直接反射于天花板而第二反射光是被待測物與天花板所反射??刂颇K分別電性連接至激光發(fā)射模塊與光檢測模塊,用以依據(jù)第一數(shù)據(jù)與第二數(shù)據(jù)分別計算第一長度值與第二長度值,并依據(jù)第一長度值與第二長度值,計算待測物的待測物高度。
      [0006]綜上所述,依據(jù)本發(fā)明至少一實施例所提出的高度量測裝置及其方法,以激光測距法量測第一長度(基板到第一反射面的距離)與第二長度(第一反射面與待測物的距離),而后依據(jù)第一長度與第二長度可以計算待測物的高度。此高度量測裝置無需占用非常大的空間,而可以被整合至體重計中,因此便于攜帶并運用于具有反射面的環(huán)境。
      [0007]以上關(guān)于本
      【發(fā)明內(nèi)容】
      的說明及以下的實施方式的說明是用以示范與解釋本發(fā)明的精神與原理,并且提供本發(fā)明的權(quán)利要求更進(jìn)一步的解釋。
      【附圖說明】
      [0008]圖1A為本發(fā)明一實施例的高度量測裝置俯視示意圖。
      [0009]圖1B為對應(yīng)于圖1A的剖面示意圖。
      [0010]圖1C為本發(fā)明另一實施例的聞度量測裝置俯視不意圖。
      [0011]圖2為本發(fā)明一實施例的高度量測裝置功能方塊圖。
      [0012]圖3A為本發(fā)明一實施例的高度量測裝置操作示意圖。
      [0013]圖3B為本發(fā)明一實施例的高度量測裝置操作示意圖。
      [0014]圖3C為本發(fā)明一實施例的高度量測裝置操作示意圖。
      [0015]圖3D為本發(fā)明一實施例的高度量測裝置操作示意圖。
      [0016]圖3E為本發(fā)明一實施例的高度量測裝置操作示意圖。
      [0017]圖3F為本發(fā)明一實施例中以余弦福射體(Lambert radiator)來說明圖3E的技術(shù)的示意圖。
      [0018]圖3G為本發(fā)明一實施例的高度量測裝置誤操作示意圖。
      [0019]圖4為本發(fā)明一實施例的時間光強度不意圖。
      [0020]圖5A為本發(fā)明一實施例的高度量測裝置操作示意圖。
      [0021]圖5B為本發(fā)明另一實施例的高度量測裝置操作示意圖。
      [0022]圖6為本發(fā)明一實施例的高度量測方法流程圖。
      [0023]附圖符號說明
      [0024]I高度量測裝置
      [0025]11第一激光發(fā)射模塊
      [0026]13第一光檢測模塊
      [0027]15第二激光發(fā)射模塊
      [0028]17第二光檢測模塊
      [0029]18基板
      [0030]19控制模塊
      [0031]201第一光徑
      [0032]203、205、207、209 第二光徑
      [0033]22反射面
      [0034]24使用者
      [0035]Ii1第一長度值
      [0036]h2高度
      [0037]Cl1U2U3第二長度值
      [0038]t!、t2時間
      [0039]Ith強度閾值
      [0040]9,0^02夾角
      【具體實施方式】
      [0041]以下在實施方式中詳細(xì)敘述本發(fā)明的詳細(xì)特征以及優(yōu)點,其內(nèi)容足以使本領(lǐng)域技術(shù)人員了解本發(fā)明的技術(shù)內(nèi)容并據(jù)以實施,且根據(jù)本說明書所揭示的內(nèi)容、權(quán)利要求及附圖,本領(lǐng)域技術(shù)人員可輕易地理解本發(fā)明相關(guān)的目的及優(yōu)點。以下的實施例是進(jìn)一步詳細(xì)說明本發(fā)明的觀點,但非以任何觀點限制本發(fā)明的范疇。
      [0042]依據(jù)本發(fā)明一實施例的一種高度量測裝置請參照圖1A與圖1B,圖1A是依據(jù)本發(fā)明一實施例的高度量測裝置俯視示意圖,圖1B是對應(yīng)于圖1A的剖面示意圖。如圖1A所示,高度量測裝置I可包含第一激光發(fā)射模塊11、第一光檢測模塊13、第二激光發(fā)射模塊15、第二光檢測模塊17與基板18。第一激光發(fā)射模塊11與第二激光發(fā)射模塊15分別位于基板18的基板上表面的第一發(fā)射位置與第二發(fā)射位置。而第一光檢測模塊13與第二光檢測模塊17分別位于基板18的基板上表面的第一檢測位置與第二檢測位置。于另一實施例中,請參照圖1C,其是依據(jù)本發(fā)明另一實施例的高度量測裝置俯視示意圖。如圖1C所示,高度量測裝置I可包含多個第一激光發(fā)射模塊11、多個第一光檢測模塊13與基板18。
      [0043]對應(yīng)于圖1A的高度量測裝置請一并參照圖2,其是依據(jù)本發(fā)明一實施例的高度量測裝置功能方塊圖。如圖2所示,高度量測裝置I可以包含第一激光發(fā)射模塊11、第一光檢測模塊13、第二激光發(fā)射模塊15、第二光檢測模塊17與控制模塊19 (未繪示于圖1A但繪示于圖2)??刂颇K19分別電性連接至第一激光發(fā)射模塊11、第一光檢測模塊13、第二激光發(fā)射模塊15與第二光檢測模塊17。
      [0044]然而,于另一實施例中,高度量測裝置I可以只包含第一激光發(fā)射模塊11、第一光檢測模塊13與控制模塊19??刂颇K19分別電性連接至第一激光發(fā)射模塊11與第一光檢測模塊13。
      [0045]在對應(yīng)于圖2的一實施例中,可以用第一激光發(fā)射模塊11以第一光徑發(fā)射第一激光,而用第二激光發(fā)射模塊15以第二光徑發(fā)射第二激光。其中,以第一光徑為例,第一光徑關(guān)聯(lián)于第一激光發(fā)射模塊11所在的第一發(fā)射位置以及一個第一發(fā)射角度,因此第一激光發(fā)射模塊11可以藉由調(diào)整第一發(fā)射位置(例如移動第一激光發(fā)射模塊11或是選擇另一
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