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      成像裝置的制造方法

      文檔序號(hào):9441456閱讀:263來源:國(guó)知局
      成像裝置的制造方法
      【技術(shù)領(lǐng)域】
      [0001]本公開涉及被配置為通過檢測(cè)具有不同的偏振分量的多個(gè)光來成像要被檢查的對(duì)象的成像裝置。
      【背景技術(shù)】
      [0002]近年來,利用低相干光的干涉的斷層圖像拾取(光學(xué)相干斷層:0CT)裝置(以下,稱為OCT裝置)已投入了實(shí)用。通過OCT裝置,能夠以高的分辨率和非侵入的方式獲得要被檢查的對(duì)象的斷層圖像。因此,特別是在眼科領(lǐng)域中,OCT裝置正變?yōu)橛糜讷@得要被檢查的眼睛的眼底(眼睛底部)的斷層圖像的必不可少的裝置。在眼科以外的領(lǐng)域中,正嘗試通過配置OCT裝置以執(zhí)行皮膚的斷層觀察或者配置為內(nèi)窺鏡或?qū)Ч?,拍攝消化器官和循環(huán)器官的壁面的斷層圖像。
      [0003]在眼科OCT裝置中,嘗試不僅獲取代表眼底組織的形狀的正常的OCT圖像(也稱為亮度圖像),而且獲取代表眼底組織的光學(xué)特性和移動(dòng)的功能OCT圖像。特別地,偏振敏感的OCT裝置作為功能OCT裝置中的一種被開發(fā),并且被配置為通過使用光的偏振參數(shù)獲取信號(hào)。偏振敏感的OCT裝置能夠繪制具有雙折射性質(zhì)的神經(jīng)纖維層和具有解析偏振的性質(zhì)的視網(wǎng)膜層,使得正推進(jìn)針對(duì)青光眼或年齡相關(guān)黃斑變性的研究。
      [0004]此時(shí),偏振敏感的OCT裝置通過使用作為眼底組織的光學(xué)特性中的一種的偏振參數(shù)(延遲和取向)形成偏振OCT圖像,使得執(zhí)行眼底組織的區(qū)分和分段。一般地,偏振敏感的OCT裝置包括能夠通過使用波長(zhǎng)板(例如,1/4波長(zhǎng)板或1/2波長(zhǎng)板)校正OCT裝置的測(cè)量光和基準(zhǔn)光的偏振狀態(tài)的光學(xué)系統(tǒng)。從光源發(fā)射的光的偏振狀態(tài)被校正成希望的偏振狀態(tài)。照射樣品的測(cè)量光的偏振狀態(tài)被校正成希望的偏振狀態(tài),并且,校正了偏振的光被用于將其干涉光分離和檢測(cè)為兩個(gè)正交線性偏振束,由此產(chǎn)生偏振OCT圖像(J.B1med.0pt.18(2), 026008(2013 年 2 月 I 日),Teresa Torzichy 等人“Retinalpolarizat1n-sensitive optical coherence tomography at 1060nm with350 kHzA-scan rate using a Fourier domain mode locked laser,,)。

      【發(fā)明內(nèi)容】

      [0005]本公開提供根據(jù)一個(gè)方面的被配置為成像要被檢查的對(duì)象的成像裝置,該成像裝置包括:被配置為將通過組合來自被測(cè)量光照射的要被檢查的對(duì)象的返回光和與測(cè)量光對(duì)應(yīng)的基準(zhǔn)光獲得的光分離成具有不同的偏振分量的多個(gè)光的分離單元;和被配置為檢測(cè)所述多個(gè)光的檢測(cè)單元,其中,校正單元被配置為校正由被設(shè)置在測(cè)量光的光學(xué)路徑或基準(zhǔn)光的光學(xué)路徑上的光學(xué)部件在不同偏振分量之間產(chǎn)生的相位差。
      [0006]本公開還提供根據(jù)另一方面的成像裝置,包括:被配置為將來自被測(cè)量光照射的要被檢查的對(duì)象的返回光分成具有不同的偏振分量的多個(gè)光的分離單元,以及,被配置為檢測(cè)所述多個(gè)光的檢測(cè)單元,其中,校正器件被配置為校正由設(shè)置在光路上的光學(xué)部件在不同偏振分量之間產(chǎn)生的相位差。
      [0007]從參照附圖閱讀對(duì)實(shí)施例的以下描述,本發(fā)明的其它特征將變得清楚。以下描述的本發(fā)明的各實(shí)施例可被單獨(dú)實(shí)施,或者,在必要時(shí)或在單個(gè)實(shí)施例中組合各實(shí)施例的要素或特征是有利的時(shí),以下描述的本發(fā)明的各實(shí)施例可被實(shí)施為多個(gè)實(shí)施例或其特征的組入口 ο
      【附圖說明】
      [0008]圖1是示出根據(jù)第一實(shí)施例的被配置為整體系統(tǒng)的SS-PS-OCT裝置的總體構(gòu)成的示意圖。
      [0009]圖2是示出根據(jù)第一實(shí)施例的被配置為光纖系統(tǒng)的SS-PS-OCT裝置的總體構(gòu)成的示意圖。
      [0010]圖3是示出根據(jù)第二實(shí)施例的SD-PS-OCT裝置的總體構(gòu)成的示意圖。
      [0011]圖4是解釋在第一實(shí)施例的SS-PS-OCT裝置的測(cè)量光路中布置用于校正偏振的相位延遲的二向色鏡的示意圖。
      [0012]圖5是示出在第三實(shí)施例的PS-OCT裝置的基準(zhǔn)光路中應(yīng)用偏振器作為用于校正偏振的相位差的校正器件的情況下的示意圖。
      [0013]圖6是示出在第四實(shí)施例的PS-OCT裝置的基準(zhǔn)光路中應(yīng)用液晶光學(xué)元件作為用于校正偏振的相位差的校正器件的情況下的示意圖。
      [0014]圖7是示出在第五實(shí)施例的PS-OCT裝置的基準(zhǔn)光路中應(yīng)用光纖型偏振控制器作為用于校正偏振的相位差的校正器件的情況下的示意圖。
      【具體實(shí)施方式】
      [0015]為了例如減小裝置的尺寸,一般使用通過使用諸如反射鏡的反射部件彎曲光路的構(gòu)成。此時(shí),根據(jù)反射鏡等的反射表面的介電常數(shù)(復(fù)折射率)產(chǎn)生從反射表面反射的光的不同的偏振分量之間的相位差(相位延遲)的性質(zhì)是公知的。因此,通過反射部件,在關(guān)于反射表面的S偏振分量和P偏振分量之間,在反射前后,產(chǎn)生相位差。
      [0016]在上述的現(xiàn)有技術(shù)中,具有Mach-Zehnder干涉計(jì)的偏振敏感的OCT裝置中,基準(zhǔn)光以直角被基準(zhǔn)反射鏡反射。因此,一個(gè)偏振分量的相位從另一偏振分量延遲,這會(huì)導(dǎo)致不同的偏振分量之間的相位差。
      [0017]不僅在設(shè)置在基準(zhǔn)光路中的反射鏡中,而且在設(shè)置在測(cè)量光路上的諸如目鏡的透射部件中,即,不在光纖中,而在布置于空氣中的光學(xué)系統(tǒng)中,會(huì)出現(xiàn)這種問題。
      [0018]偏振敏感的OCT裝置能夠通過檢測(cè)在要被檢查的對(duì)象中產(chǎn)生的不同的偏振分量之間的相位差獲取偏振OCT圖像。但是,如果在光學(xué)OCT裝置的光路中存在偏振的相位差,那么難以實(shí)現(xiàn)在要被檢查的對(duì)象中產(chǎn)生的不同的偏振分量之間的相位差的精確檢測(cè)。
      [0019]本公開提供由設(shè)置在光路上的光學(xué)部件的反射或透射(特別是反射部件的反射)產(chǎn)生的不同的偏振分量之間的相位差(相位延遲)的減小。因此,可校正由設(shè)置在光路中的光學(xué)部件在不同偏振分量之間產(chǎn)生的相位差。
      [0020]根據(jù)實(shí)施例,實(shí)現(xiàn)由設(shè)置在光路上的光學(xué)部件的反射或透射(特別是反射部件的反射)產(chǎn)生的不同的偏振分量之間的相位差(相位延遲)的減小。
      [0021]被配置為校正不同的偏振分量之間的相位差的校正器件是與上述的光學(xué)部件相同的類型的光學(xué)部件,并且,可被布置為校正相位差。光學(xué)部件和校正器件包含例如設(shè)置在測(cè)量光的光路上的二向色鏡或設(shè)置在基準(zhǔn)光的光路上的基準(zhǔn)反射鏡。
      [0022]被配置為校正不同的偏振分量之間的相位差的校正器件包含與上述的光學(xué)部件的類型不同的光學(xué)部件,并且,可包含被配置為驅(qū)動(dòng)校正器件的驅(qū)動(dòng)器件和被配置為控制驅(qū)動(dòng)器件以校正相位差的控制器件。校正器件包含例如作為偏振調(diào)整部件的例子的λ/2板或λ /4板,諸如馬達(dá)的驅(qū)動(dòng)器件旋轉(zhuǎn)偏振調(diào)整部件。
      [0023]校正器件包含例如偏振器(參照第三實(shí)施例)、液晶光學(xué)元件(參照第四實(shí)施例)和光纖型偏振控制部件(參照第五實(shí)施例)。
      [0024]在光學(xué)部件被設(shè)置在測(cè)量光的光路上的情況下,校正器件可被設(shè)置在測(cè)量光的光路上。因此,在測(cè)量光中產(chǎn)生的不同的偏振分量之間的相位差可在測(cè)量光的光路中被校正。在光學(xué)部件被設(shè)置在基準(zhǔn)光的光路上的情況下,校正器件可被設(shè)置在基準(zhǔn)光的光路上。因此,在基準(zhǔn)光中產(chǎn)生的不同的偏振分量之間的相位差可在基準(zhǔn)光的光路中被校正。因此,可簡(jiǎn)單地配置不同的偏振分量之間的相位差的校正。
      [0025]現(xiàn)在將參照附圖詳細(xì)描述本公開的實(shí)施例。
      [0026]第一實(shí)施例:通過相同類型的光學(xué)部件校正在光學(xué)部件中產(chǎn)生的偏振的相位差
      [0027]現(xiàn)在將參照?qǐng)D1、2和圖4,描述本實(shí)施例中的偏振敏感的OCT裝置的構(gòu)成。為了便于描述,如圖所示,設(shè)定X軸、Y軸和Z軸。
      [0028]裝置的總體構(gòu)成
      [0029]圖1是示出本實(shí)施例的偏振敏感的OCT裝置的總體構(gòu)成的示意圖,并且,是包含Mach-Zehnder干涉計(jì)的SS (掃描源)-PS (偏振敏感)OCT裝置的構(gòu)成的例子。
      [0030]SS-PS-OCT 裝置 100 的構(gòu)成
      [0031]將描述SS-PS-OCT裝置100的構(gòu)成。光源101包含光的振蕩波長(zhǎng)周期性地改變的波長(zhǎng)掃描光源,并且,例如,發(fā)射具有1040nm的中心波長(zhǎng)和10nm的帶寬的光。從光源101發(fā)射的光通過單模光纖(以下,稱為“SM光纖”)102和偏振控制器103被引導(dǎo)到準(zhǔn)直器104,并且,在準(zhǔn)直器104中經(jīng)準(zhǔn)直化的光射向空間。發(fā)射的經(jīng)準(zhǔn)直化的光束通過偏振器105被引導(dǎo)向光束分離器106,并且,分離成測(cè)
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