專利名稱：平面顯示裝置及平面顯示裝置的檢驗方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及平面顯示裝置及平面顯示裝置的檢驗方法，例如可應(yīng)用于在絕緣襯底上一體形成驅(qū)動電路的液晶顯示裝置。
背景技術(shù)：
近年來，作為例如PDA、移動電話等便攜式終端裝置中所應(yīng)用的平面顯示裝置的液晶顯示裝置，是在作為構(gòu)成液晶顯示面板的絕緣襯底的玻璃襯底上，一體地形成液晶顯示面板的驅(qū)動電路而成的。
在這樣的液晶顯示裝置中，由液晶晶元、作為該液晶晶元的開關(guān)元件的多晶硅TFT(Thin Film Transistor，薄膜晶體管)、保持電容形成各個像素。將所述像素呈矩陣狀配置，從而形成顯示部分；由配置在該顯示部分周圍的各種驅(qū)動電路來驅(qū)動顯示部分，從而顯示各種圖像。
在液晶顯示裝置中，即使這樣呈矩陣狀配置的多個像素中有一個產(chǎn)生缺陷，該有缺陷像素也能夠作為明亮的亮點被觀察到，從而顯著破壞顯示圖像的品質(zhì)。因此，在日本專利特開2002-221547號公報等中，提出了各種檢測這種有缺陷像素的方法。
然而，在這些液晶顯示裝置中，即使是通過出廠時的檢查沒有被檢測出有缺陷像素的顯示裝置，也可能會在市場上使用時產(chǎn)生有缺陷像素。因此，本申請的申請人利用加速檢驗進行篩除(screening)，從而可以在出廠檢驗時就將這種會在市場上產(chǎn)生的有缺陷像素檢測出來。
即，如圖3所示，在液晶顯示裝置中，由液晶晶元2、多晶硅TFT3、保持電容4形成各個像素；并且該多晶硅TFT 3通過信號線(列向線)LC及柵線(行向線)LR分別連接到水平驅(qū)動電路及垂直驅(qū)動電路上。在篩除的檢驗中，通過給保持電容4的信號線一側(cè)的相反側(cè)的電極的布線圖案所成的共用線COM施加如標(biāo)號A所示的脈沖狀的高電壓，從而可以把會在市場上成為有缺陷像素的像素，作為有缺陷像素事先檢測出來。另外，此處該脈沖狀電壓被設(shè)定為是通常的操作電壓的2倍，且峰值被設(shè)定為15V，并被設(shè)定為比無缺陷的、且在市場中也不會成為有缺陷像素的像素中的晶體管3和電容器4之間的耐壓Va還大。
因此，如圖4所示，在這種液晶顯示裝置1中，從給信號線LC預(yù)充電到預(yù)先規(guī)定電位的CS驅(qū)動電路9而來的布線圖案經(jīng)由外部接線端T1、T2被臨時引出到外部。這樣，則可以將該布線圖案連接在預(yù)先規(guī)定的檢驗裝置上，并執(zhí)行篩除檢驗，而且還可以執(zhí)行各種不同的檢驗。
即，在該圖4所示的液晶顯示裝置1中，由液晶晶元2、多晶硅TFT3、保持電容4形成的像素被呈矩陣狀配置在玻璃襯底10上，從而形成顯示部分11。并且該顯示部分11的信號線LC及柵線LR分別連接在水平驅(qū)動電路12及垂直驅(qū)動電路13上。此處，水平驅(qū)動電路12和垂直驅(qū)動電路13被形成在顯示部分11的周圍的玻璃襯底10上。水平驅(qū)動電路12順次輸入表示各個像素色調(diào)的色調(diào)數(shù)據(jù)，并將各個像素的驅(qū)動信號以行為單位順次輸出給顯示部分11，垂直驅(qū)動電路13將用于選擇該水平驅(qū)動電路12的輸出的選擇信號輸出給顯示部分11。因此，在液晶顯示裝置1中，由柵線LR選擇，并由信號線LC進行驅(qū)動呈矩陣狀配置而成的顯示部分的像素，從而在顯示部分11上顯示所需的圖像。
在液晶顯示裝置1中，通過是有源元件的晶體管所組成的開關(guān)電路15，可以切斷水平驅(qū)動電路12和信號線LC的連接，而且通過類似的開關(guān)電路16可以將信號線LC連接到共用線COM上。因此，在液晶顯示裝置1中，分別將開關(guān)電路15及16設(shè)定為關(guān)斷狀態(tài)及導(dǎo)通狀態(tài)，并通過CS驅(qū)動電路9給信號線LC預(yù)充電到預(yù)先規(guī)定的電壓，然后，將開關(guān)電路15及16分別切換為導(dǎo)通狀態(tài)及關(guān)斷狀態(tài)，從而可以驅(qū)動各個像素。此外，根據(jù)幀反轉(zhuǎn)、行反轉(zhuǎn)等在液晶顯示裝置1中的驅(qū)動形式，按預(yù)先規(guī)定的時間來執(zhí)行這樣的預(yù)充電。此外，在該圖4所示的結(jié)構(gòu)中，C是外部的電容器，18是墊(pad)電極。
篩除檢驗是如下執(zhí)行的在切斷了接線端T1及T2之間的連接的狀態(tài)下，通過分別將用于預(yù)充電的開關(guān)電路15及16設(shè)定為關(guān)斷狀態(tài)及導(dǎo)通狀態(tài)，并像接線端T2上施加預(yù)先規(guī)定電壓，從而將保持電容4的兩端電壓設(shè)定為預(yù)先規(guī)定電壓，之后，將開關(guān)電路16設(shè)定為關(guān)斷狀態(tài)，并通過接線端T2施加如圖3所述的脈沖狀電壓。
但是，在這樣的檢驗方法中，不僅保持電容4，而且開關(guān)電路16上也被施加了脈沖狀的高電壓。因此，在使用高耐壓晶體管時可以沒有任何問題地篩除，相反，在用于由低耐壓晶體管構(gòu)成的液晶顯示裝置1時，該篩除檢驗會導(dǎo)致液晶顯示裝置的可靠性惡化的問題。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明是考慮以上問題而完成的，所以提出了一種即使在使用低耐壓晶體管時，也可以有效地避免可靠性的惡化，并能可靠地執(zhí)行有缺陷像素的篩除的平面顯示裝置及平面顯示裝置的檢驗方法。
為解決這些問題，本發(fā)明的第一方案應(yīng)用于將顯示部分和驅(qū)動電路一體形成在襯底上而成的平面顯示裝置中，其中所述顯示部分是將像素呈矩陣狀配置而成的，其中所述驅(qū)動電路利用柵線選擇顯示部分的像素，并由信號線驅(qū)動，從而在顯示部分顯示所需的圖像。在本發(fā)明的第一方案中，平面顯示裝置具有在預(yù)先規(guī)定的時間給信號線預(yù)充電的預(yù)充電電路，其中像素具有通過柵線選擇、由信號線的電位進行充電的電容器，并且，至少電容器的信號線一側(cè)的相反側(cè)的電極所連接的電極一側(cè)的布線圖案與將信號線連接到所述預(yù)充電電路的信號線一側(cè)的布線圖案絕緣，并由襯底的外部連接到預(yù)充電電路上。
本發(fā)明的第二方案，應(yīng)用于將顯示部分和驅(qū)動電路一體形成在襯底上而成的平面顯示裝置的檢驗方法中，其中所述顯示部分是將像素呈矩陣狀配置而成的，其中所述驅(qū)動電路利用柵線選擇顯示部分的像素，并由信號線驅(qū)動，從而在顯示部分顯示所需的圖像。本發(fā)明的第二方案中，該平面顯示裝置具有在預(yù)先規(guī)定的時間給信號線預(yù)充電的預(yù)充電電路，所述電容器通過柵線選擇、由信號線的電位進行充電，并且，至少電容器的信號線一側(cè)的相反側(cè)的電極所連接的電極一側(cè)的布線圖案與將信號線連接到預(yù)充電電路的信號線一側(cè)的布線圖案絕緣，并由襯底的外部連接到預(yù)充電電路上；平面顯示裝置的檢驗方法是在將電極一側(cè)的布線圖案引出到襯底外部之處和將布線圖案連入預(yù)充電電路之處之間，施加脈沖狀的電壓，從而可檢測出像素的有缺陷之處。
根據(jù)本發(fā)明第一方案的結(jié)構(gòu)，若應(yīng)用于將顯示部分和驅(qū)動電路一體形成在玻璃襯底上而成的平面顯示裝置中，其中所述顯示部分是將像素呈矩陣狀配置而成的，其中所述驅(qū)動電路利用柵線選擇顯示部分的像素，并由信號線驅(qū)動，從而在顯示部分顯示所需的圖像，且平面顯示裝置具有在預(yù)先規(guī)定的時間給信號線預(yù)充電的預(yù)充電電路，像素具有通過柵線選擇，由信號線的電位進行充電的電容器，并且，至少電容器的信號線一側(cè)的相反側(cè)的電極所連接的電極一側(cè)的布線圖案與將信號線連接到所述預(yù)充電電路的信號線一側(cè)的布線圖案絕緣，并由襯底的外部連接到預(yù)充電電路上；則將信號線一側(cè)保持在預(yù)先規(guī)定的電位的狀態(tài)下，通過切斷外部連接之處并且在電極一側(cè)的布線圖案上施加脈沖狀的電壓，就可以不需在信號線一側(cè)施加高電壓而執(zhí)行篩除檢驗。因此，對于信號線一側(cè)所設(shè)置的TFT等的有源元件，可以避免施加高電壓，從而即使在使用低耐壓有源元件時，也可以有效地避免可靠性的惡化，并能可靠地執(zhí)行有缺陷像素的篩除。
因此，若根據(jù)本發(fā)明的第二方案的結(jié)構(gòu)，則可以提供即使在使用低耐壓有源元件時，也可以有效地避免可靠性的惡化，并能可靠地執(zhí)行有缺陷像素的篩除的平面顯示裝置的檢驗方法。


圖1是表示本發(fā)明的實施方式中的液晶顯示裝置的框圖；圖2示出了用于圖1的液晶顯示裝置的檢驗的框圖；圖3示出了用于有缺陷像素的篩除的連接圖；圖4是表示以往的液晶顯示裝置的框圖。
具體實施例方式
下面，參照合適的附圖詳細說明本發(fā)明的實施方式。
圖1是通過與圖4的對比表示本發(fā)明的實施方式中的液晶顯示裝置的框圖。在液晶顯示裝置21，具有與圖4所述的液晶顯示裝置1相似的結(jié)構(gòu)，并標(biāo)示有相應(yīng)的標(biāo)號，故省略重復(fù)說明。
該液晶顯示裝置21是將呈矩陣狀配置像素而成的顯示部分11和驅(qū)動電路12、13一體地形成在玻璃襯底上而成的，其中所述的驅(qū)動電路利用柵線LR選擇該顯示部分11的像素，并由信號線LC驅(qū)動，從而在顯示部分11顯示所需的圖像。此外，CS驅(qū)動電路9作為在預(yù)先規(guī)定的時間給信號線預(yù)充電的預(yù)充電電路，被設(shè)置在該玻璃襯底10上。
在該液晶顯示裝置21中，用于預(yù)充電處理的信號線LC一側(cè)的布線圖案LCC在該襯底10上被連接到CS驅(qū)動電路9，并經(jīng)由開關(guān)電路16連接到信號線LC上。此外，保持電容4的信號線一側(cè)的相反側(cè)的布線圖案所成的共用線COM與該信號線LC一側(cè)的布線圖案LCC絕緣，并連接在接線端T2上，而信號線LC一側(cè)的布線圖案LCC被連接在與該接線端T2鄰接的接線端T1上。因此，在該液晶顯示裝置21中，保持電容4信號線LC一側(cè)的相反側(cè)的電極上所連接的電極一側(cè)的布線圖案COM與連接在給信號線LC預(yù)充電的電路9上的、信號線一側(cè)的布線圖案LCC絕緣，并通過襯底10的外部，連接在預(yù)充電電路9上。
因此，在液晶顯示裝置21中，通過與以往結(jié)構(gòu)的液晶顯示裝置1(圖4)不同的路徑給信號線LC預(yù)充電到保持電容4的電位之后，通過水平驅(qū)動電路12、垂直驅(qū)動電路13的驅(qū)動來驅(qū)動各個像素，從而顯示所需的圖像。
圖2是表示檢驗時該液晶顯示裝置21與檢驗裝置22的連接的框圖。在該實施方式中，在玻璃襯底10上制成了各種驅(qū)動電路12、13、顯示部分11等之后，通過該檢驗裝置22執(zhí)行各種操作檢驗。此處，在該操作檢驗中，由控制器23控制檢驗裝置22的操作，將用作操作基準的時鐘、用于檢驗的各種顯示數(shù)據(jù)從檢驗裝置22輸出給液晶顯示裝置21，進而確認液晶顯示裝置21的操作。在該實施方式中，有缺陷像素的篩除檢驗被設(shè)為要執(zhí)行的檢驗項目之一。
在該篩除檢驗中，檢驗裝置22將開關(guān)電路15、16分別設(shè)為關(guān)斷狀態(tài)、導(dǎo)通狀態(tài)，并將接線端T1、T2設(shè)定在預(yù)先規(guī)定電位上。此外，在該實施方式中，例如通過將該接線端T1、T2連接在檢驗裝置22的地線上，可以將該預(yù)先規(guī)定的電位設(shè)定為接地電位。
接下來，檢驗裝置22切斷接線端T2的接地電位，并施加如圖3所示的脈沖狀的高電壓。因此，在該實施方式中，在各個像素中，在晶體管3和保持電容4之間施加操作電壓以上的電壓，從而在接下來的有缺陷像素的檢測處理中，可以檢測出在市場中會成為有缺陷像素的像素。
但是，在該實施方式中，將與像素的電容器相關(guān)的布線圖案LCC、COM中的共用線一側(cè)布線圖案COM在外部獨立地連接到預(yù)充電電路9上，從而不必在開關(guān)電路16上施加高電壓就可以執(zhí)行篩除檢驗，因此，即使在使用低耐壓晶體管時，也可以有效地避免可靠性的惡化，并能可靠地執(zhí)行有缺陷像素的篩除。
根據(jù)以上的結(jié)構(gòu)，通過將與像素電容器相關(guān)的布線圖案中共用線一側(cè)在外部獨立地連接到預(yù)充電電路上，從而使得即使在使用低耐壓晶體管時，也可以有效地避免可靠性的惡化，并能可靠地執(zhí)行有缺陷像素的篩除。
此外，在上述實施方式中，雖然對于僅將共用線COM外部連接時進行了說明，但本發(fā)明并不局限于此，也可以一并將信號線一側(cè)的布線圖案LCC在外部連接在CS驅(qū)動電路中。
此外，在上述實施方式中，雖然對于將本發(fā)明應(yīng)用于在玻璃襯底上制成顯示部分等而成的TFT液晶進行了說明，但本發(fā)明并不局限于此，而是可以廣泛應(yīng)用于CGS(Continuous Grain silicon)液晶等各種液晶顯示裝置、還有EL(Electro Luminescence)顯示裝置等各種平面顯示裝置。
發(fā)明效果若如上采用本發(fā)明，通過將與像素的電容器相關(guān)的布線圖案中共用線一側(cè)在外部獨立地連接到預(yù)充電電路上，那么即使在使用低耐壓晶體管時，也可以有效地避免可靠性的惡化，并能可靠地執(zhí)行有缺陷像素的篩除。
權(quán)利要求
1.一種平面顯示裝置，所述平面顯示裝置由顯示部分和驅(qū)動電路一體形成在襯底上而構(gòu)成，其中所述顯示部分是將像素呈矩陣狀配置而成的，其中所述驅(qū)動電路利用柵線選擇所述顯示部分的像素，并由信號線驅(qū)動，從而在所述顯示部分顯示所需的圖像，其特征在于所述平面顯示裝置具有在預(yù)先規(guī)定的時間給所述信號線預(yù)充電的預(yù)充電電路，所述像素包括通過所述柵線選擇、由所述信號線的電位進行充電的電容器，并且，至少所述電容器的所述信號線一側(cè)的相反側(cè)的電極所連接的電極一側(cè)的布線圖案與將所述信號線連接到所述預(yù)充電電路的信號線一側(cè)的布線圖案絕緣，并在所述襯底的外部連接到所述預(yù)充電電路上。
2.如權(quán)利要求1所述的平面顯示裝置，其特征在于，所述信號線一側(cè)的布線圖案通過由有源元件組成的開關(guān)電路連接到所述信號線上，所述有源元件是由低溫多晶硅或CGS形成的元件。
3.一種平面顯示裝置的檢驗方法，所述平面顯示裝置由顯示部分和驅(qū)動電路一體形成在襯底上而構(gòu)成，其中所述顯示部分是將像素呈矩陣狀配置而成的，其中所述驅(qū)動電路利用柵線選擇所述顯示部分的像素，并由信號線驅(qū)動，從而在所述顯示部分顯示所需的圖像，其特征在于所述平面顯示裝置具有在預(yù)先規(guī)定的時間給所述信號線預(yù)充電的預(yù)充電電路，所述像素包括通過所述柵線選擇、由所述信號線的電位進行充電的電容器，并且，至少所述電容器的所述信號線一側(cè)的相反側(cè)的電極所連接的電極一側(cè)的布線圖案與將所述信號線連接到所述預(yù)充電電路的信號線一側(cè)的布線圖案絕緣，并在所述襯底的外部連接到所述預(yù)充電電路上，所述平面顯示裝置的檢驗方法在將所述電極一側(cè)的布線圖案引出到所述襯底外部之處和將所述布線圖案連入所述預(yù)充電電路之處之間，施加脈沖狀的電壓，從而可檢測出所述像素的有缺陷之處。
全文摘要
本發(fā)明涉及平面顯示裝置及平面顯示裝置的檢驗方法，例如可應(yīng)用于在絕緣襯底上一體形成驅(qū)動電路的液晶顯示裝置。本發(fā)明的方法即使在使用低耐壓晶體管時，也可以有效地避免可靠性的惡化，并能可靠地執(zhí)行有缺陷像素的篩除。本發(fā)明將與像素電容器相關(guān)的布線圖案LCC、COM中共用線一側(cè)COM在外部獨立地連接在預(yù)充電電路上。
文檔編號G09G3/20GK1577469SQ200410062
公開日2005年2月9日 申請日期2004年6月30日 優(yōu)先權(quán)日2003年6月30日
發(fā)明者村瀬正樹, 仲島義晴, 木田芳利, 三井修 申請人:索尼株式會社