陣列基板、信號(hào)線不良的檢測(cè)方法、顯示面板及顯示裝置制造方法
【專利摘要】本發(fā)明提供一種陣列基板、信號(hào)線不良的檢測(cè)方法、顯示面板及顯示裝置，屬于顯示【技術(shù)領(lǐng)域】，其可解決現(xiàn)有的陣列基板在進(jìn)行Array&Cell Test不良檢測(cè)時(shí)，信號(hào)線與修復(fù)線由于ESD短接在一起導(dǎo)致顯示不良不容易被檢測(cè)出來的問題。本發(fā)明的陣列基板，其包括信號(hào)線，與信號(hào)線交叉且絕緣設(shè)置的修復(fù)線，以及檢測(cè)單元和外加電源電壓輸入端；其中，所述修復(fù)線與所述檢測(cè)單元電性連接，所述檢測(cè)單元用于在所述修復(fù)線與所述信號(hào)線短接時(shí)，在信號(hào)線的控制下將所述外加電源電壓輸入端所輸入的外加電源電壓引入到該修復(fù)線中。
【專利說明】陣列基板、信號(hào)線不良的檢測(cè)方法、顯示面板及顯示裝置
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明屬于顯示【技術(shù)領(lǐng)域】，具體涉及一種陣列基板、信號(hào)線不良的檢測(cè)方法、顯示面板及顯示裝置。
【背景技術(shù)】
[0002]在薄膜晶體管液晶顯不器(ThinFilm Transistor Liquid Crystal Display,簡稱TFT-1XD)制造過程中，Array&Cell Test過程中通常采用短路條(Shorting Bar)檢測(cè)方式。如圖1所示，陣列基板上形成有公共電極線4和分別與紅色子像素、綠色子像素、藍(lán)色子像素對(duì)應(yīng)的三條短路條(即，紅色短路條1、綠色短路條2、藍(lán)色短路條3);其中，每條短路條連接與其對(duì)應(yīng)的子像素(紅色子像素、綠色子像素、藍(lán)色子像素)所連接的數(shù)據(jù)線5、6、7。通過分別給短路條施加電壓，可以檢測(cè)與短路條連接的數(shù)據(jù)線是是否存在破損。
[0003]為了避免數(shù)據(jù)線破損而導(dǎo)致顯示面板報(bào)廢，故在陣列基板的周邊區(qū)域上還形成有與數(shù)據(jù)線交叉設(shè)置的修復(fù)線8，但是在液晶面板生產(chǎn)過程中，很容易在修復(fù)線8與數(shù)據(jù)線交叉的位置產(chǎn)生靜電(ESD)(圖1中標(biāo)號(hào)9即發(fā)生ESD的位置)，從而導(dǎo)致數(shù)據(jù)線被擊穿與修復(fù)線8短路，進(jìn)而導(dǎo)致數(shù)據(jù)線上的數(shù)據(jù)電壓被拉低(數(shù)據(jù)線上的電壓通常為正，而修復(fù)線8電壓為零，即無電壓)，造成顯示不良。然而在通過短路條檢測(cè)方式檢測(cè)顯示面板上的數(shù)據(jù)線時(shí)，此時(shí)與修復(fù)線8短路的數(shù)據(jù)線同時(shí)還是與其他數(shù)據(jù)線連接的，故修復(fù)線8將這些數(shù)據(jù)線上的電壓拉低較少部分，也就是說與修復(fù)線8短路的數(shù)據(jù)線相對(duì)于為短路的數(shù)據(jù)線被拉低的電壓差異很小，從而被短路的數(shù)據(jù)線與其他數(shù)據(jù)線驅(qū)動(dòng)的像素電極的電壓差距很小，液晶偏轉(zhuǎn)的差異不明顯，顯示的顏色的差異也不明顯，因此這種短路不良是不容易檢測(cè)出來的。
[0004]發(fā)明人發(fā)現(xiàn)現(xiàn)有技術(shù)中至少存在如下問題:模組(Module)階段時(shí)為全接觸(FullContact)檢測(cè)方式，該數(shù)據(jù)線不與其他數(shù)據(jù)線連接，修復(fù)線8可以拉低這條數(shù)據(jù)線的電壓，電壓會(huì)導(dǎo)致液晶偏轉(zhuǎn)的不同于正常的區(qū)域，檢測(cè)表現(xiàn)為兩線。此時(shí)檢測(cè)出來該數(shù)據(jù)線存在問題，若問題嚴(yán)重的將導(dǎo)致整個(gè)面板報(bào)廢，不嚴(yán)重也將會(huì)增加額外修復(fù)流程。
【發(fā)明內(nèi)容】
[0005]本發(fā)明所要解決的技術(shù)問題包括，針對(duì)現(xiàn)有的陣列基板存在的上述的問題，提供一種可以檢測(cè)信號(hào)線與修復(fù)線短接而導(dǎo)致顯示不良的陣列基板、信號(hào)下不良的檢測(cè)方法、顯示面板及顯示裝置。
[0006]解決本發(fā)明技術(shù)問題所采用的技術(shù)方案是一種陣列基板，其包括信號(hào)線，與信號(hào)線交叉且絕緣設(shè)置的修復(fù)線，以及檢測(cè)單元和外加電源電壓輸入端；其中，
[0007]所述修復(fù)線與所述檢測(cè)單元電性連接，所述檢測(cè)單元用于在所述修復(fù)線與所述信號(hào)線短接時(shí)，在信號(hào)線的控制下將所述外加電源電壓輸入端所輸入的外加電源電壓引入到該修復(fù)線中。
[0008]在本發(fā)明的陣列基板中，當(dāng)信號(hào)線與修復(fù)線由于ESD短接在一起時(shí)，檢測(cè)單元可以將所述外加電源電壓輸入端所輸入的外加電源電壓引入到該修復(fù)線中，因此根據(jù)外加電源電壓的大小將與該修復(fù)線短接的信號(hào)線上的電壓拉低或者拉高，以使得該信號(hào)線上的電壓與其他線號(hào)線上的電壓有明顯的差別，也就說與該信號(hào)線對(duì)應(yīng)的像素單元的顯示將會(huì)明顯與其他信號(hào)線對(duì)應(yīng)的像素單元的顯示不同，從而可以判斷是哪一根信號(hào)線與修復(fù)線發(fā)生了短接，進(jìn)而可以將該短接位置兩側(cè)的修復(fù)線切斷，避免由于修復(fù)線拉低信號(hào)線的電壓，同時(shí)解決了信號(hào)線于修復(fù)線由于ESD短接在一起不容易檢測(cè)的問題。
[0009]優(yōu)選的是，所述檢測(cè)單元包括開關(guān)模塊，
[0010]所述開關(guān)模塊的控制端連接信號(hào)線，一端與所述外加電源電壓的輸入端，另一端連接修復(fù)線。
[0011]進(jìn)一步優(yōu)選的是，所述開關(guān)模塊為開關(guān)晶體管，
[0012]所述開關(guān)晶體管的控制極連接信號(hào)線，第一極連接外加電源電壓的輸入端，第二極連接修復(fù)線。
[0013]優(yōu)選的是，所述修復(fù)線與所述信號(hào)線短接時(shí)，給所述外加電源電壓輸入端所輸入的外加電源電壓為負(fù)向電壓。
[0014]進(jìn)一步優(yōu)選地是，給所述外加電源電壓輸入端所輸入的外加電源電壓的電壓值為-20V。
[0015]優(yōu)選的是，所述信號(hào)線為數(shù)據(jù)線和/或柵線。
[0016]優(yōu)選的是，所述陣列基板包括用于顯示的顯示區(qū)和將所述顯示區(qū)包圍的周邊區(qū)，所述檢測(cè)單元和所述外加電源電壓輸入端均設(shè)置在所述陣列基板的周邊區(qū)。
[0017]解決本發(fā)明技術(shù)問題所采用的技術(shù)方案是一種信號(hào)線不良的檢測(cè)方法，其包括:
[0018]給檢測(cè)單元一端施加一外加電源電壓，以及給信號(hào)線施加一驅(qū)動(dòng)電壓，當(dāng)信號(hào)線與修復(fù)線短接在一起時(shí)，外加電源電壓通過檢測(cè)單元拉低與修復(fù)線短路的信號(hào)線上的電壓，以判斷出發(fā)生不良的信號(hào)線。
[0019]解決本發(fā)明技術(shù)問題所采用的技術(shù)方案是一種顯示面板，其包括上述陣列基板。
[0020]解決本發(fā)明技術(shù)問題所采用的技術(shù)方案是一種顯示裝置，其包括上述顯示面板。
【專利附圖】
【附圖說明】
[0021]圖1為現(xiàn)有的陣列基板的Shorting bar不良檢測(cè)的示意圖；
[0022]圖2為本發(fā)明的實(shí)施例1的陣列基板的示意圖；
[0023]圖3為本發(fā)明的實(shí)施例1的陣列基板上的檢測(cè)單元為開關(guān)晶體管時(shí)的示意圖。
[0024]其中附圖標(biāo)記為:1、紅色短路條；2、綠色短路條；3、藍(lán)色短路條；4、公共電極線；5、與紅色子像素連接的數(shù)據(jù)線；6、與綠色子像素連接的數(shù)據(jù)線；7、與藍(lán)色子像素連接的數(shù)據(jù)線；8、修復(fù)線；9、發(fā)生ESD的位置；10、信號(hào)線；11、檢測(cè)單元部；11_1、第一極；11_2、第二極；11_3、控制極；12、外加電源電壓輸入端；13、檢測(cè)信號(hào)線；Q1、顯示區(qū)；Q2、周邊區(qū)。
【具體實(shí)施方式】
[0025]為使本領(lǐng)域技術(shù)人員更好地理解本發(fā)明的技術(shù)方案，下面結(jié)合附圖和【具體實(shí)施方式】對(duì)本發(fā)明作進(jìn)一步詳細(xì)描述。
[0026]實(shí)施例1:
[0027]如圖2所示，本實(shí)施例提供一種陣列基板，其包括信號(hào)線10，與信號(hào)線10交叉且絕緣設(shè)置的修復(fù)線8，以及檢測(cè)單元11和外加電源電壓輸入端12 ;其中，所述修復(fù)線8與所述檢測(cè)單元11電性連接，所述檢測(cè)單元11用于在所述修復(fù)線8與所述信號(hào)線10短接時(shí)，在信號(hào)線10的控制下將所述外加電源電壓輸入端12所輸入的外加電源電壓引入到該修復(fù)線8中。
[0028]本領(lǐng)域技術(shù)人員可以理解的是，陣列基板通常包括用于顯示的顯示區(qū)Ql和將所述顯示區(qū)Ql包圍的周邊區(qū)Q2，其中為了不影響陣列基板的開口率，修復(fù)線8通常是設(shè)置在陣列基板的周邊區(qū)Q2的。同時(shí)需要說明的是，在本實(shí)施例中主要是解決信號(hào)線10不良檢測(cè)時(shí)，也就是Shorting bar不良檢測(cè)時(shí)，當(dāng)信號(hào)線10與修復(fù)線8由于ESD而短接在一起不容易檢測(cè)的問題。
[0029]在本實(shí)施例中，當(dāng)信號(hào)線10與修復(fù)線8由于ESD短接在一起時(shí)，檢測(cè)單元11可以將所述外加電源電壓輸入端12所輸入的外加電源電壓引入到該修復(fù)線8中，因此根據(jù)外加電源電壓的大小將與該修復(fù)線8短接的信號(hào)線10上的電壓拉低或者拉高，以使得該信號(hào)線10上的電壓與其他信號(hào)線上的電壓有明顯的差別，也就說與該信號(hào)線10對(duì)應(yīng)的像素單元的顯示將會(huì)明顯與其他信號(hào)線10對(duì)應(yīng)的像素單元的顯示不同，從而可以判斷是哪一根信號(hào)線10與修復(fù)線8發(fā)生了短接，進(jìn)而可以將該短接位置兩側(cè)的修復(fù)線8切斷，避免由于修復(fù)線8拉低信號(hào)線10的電壓，同時(shí)解決了信號(hào)線10與修復(fù)線8由于ESD短接在一起不容易檢測(cè)的問題。
[0030]優(yōu)選地，所述檢測(cè)單元11包括開關(guān)模塊，所述開關(guān)模塊的控制端連接信號(hào)線10，一端與所述外加電源電壓的輸入端，另一端連接修復(fù)線8。也就是說，信號(hào)線10所施加的電壓信號(hào)可以作為開關(guān)模塊的控制信號(hào)，與開關(guān)模塊的控制端連接，控制開關(guān)模塊的開啟與關(guān)斷。具體的，當(dāng)信號(hào)線10上被施加電壓時(shí)，開關(guān)模塊被開啟，此時(shí)外加電源輸入端所述輸入的電壓，可以通過開關(guān)模塊進(jìn)入到修復(fù)線8中，此時(shí)一旦信號(hào)線10與修復(fù)線8發(fā)生短路，那么必然修復(fù)線8上的電源電壓將同時(shí)施加到信號(hào)線10上，將信號(hào)線10上的電壓拉低或者拉高。因此可以判斷出哪一根信號(hào)線10與修復(fù)線8發(fā)生了短接。
[0031]進(jìn)一步優(yōu)選地，所述開關(guān)模塊為開關(guān)晶體管，所述開關(guān)晶體管的控制極11-3連接信號(hào)線10，第一極11-1連接外加電源電壓的輸入端，第二極11-2連接修復(fù)線8。開關(guān)模塊之所以采用開關(guān)晶體管是因?yàn)?，開關(guān)晶體管的結(jié)構(gòu)簡單，易于控制。特別是，因?yàn)殛嚵谢宓娘@示區(qū)Ql上的像素單元中同樣包括開關(guān)晶體管，此時(shí)該開關(guān)晶體管可以和像素單元中的開關(guān)晶體管采用一次構(gòu)圖工藝形成，因此節(jié)省工藝時(shí)間，提高生產(chǎn)效率。具體的，開關(guān)晶體管的控制極11-3與信號(hào)線10連接，因此，信號(hào)線10上所施加的電壓信號(hào)，則作為開關(guān)晶體管的導(dǎo)通信號(hào)。當(dāng)開管晶體管導(dǎo)通時(shí)，外加電源輸入端輸入的電壓，可以通過開關(guān)晶體管引入到修復(fù)線8中，此時(shí)一旦信號(hào)線10與修復(fù)線8發(fā)生短路，那么必然修復(fù)線8上的電源電壓將同時(shí)施加到信號(hào)線10上，將信號(hào)線10上的電壓拉低或者拉高。因此可以判斷出哪一根信號(hào)線10與修復(fù)線8發(fā)生了短接。
[0032]具體的，當(dāng)檢測(cè)單元11為開關(guān)晶體管時(shí)，具體連接方式如圖3所示，其中，開關(guān)晶體管的第一極11-1連接檢測(cè)信號(hào)線，檢測(cè)信號(hào)線13的另一端連接外加電源電壓信號(hào)端，開關(guān)晶體管的第二極11-2連接修復(fù)線8，控制極11-3連接信號(hào)線10。
[0033]在本實(shí)施例中，優(yōu)選地，所述修復(fù)線8與所述信號(hào)線10短接時(shí)，為所述外加電源電壓輸入端12所輸入的外加電源電壓為負(fù)向電壓。由于通常信號(hào)線10上通常所施加的電壓為正向電壓，此時(shí)在修復(fù)線8與所述信號(hào)線10短接時(shí)，為所述外加電源電壓輸入端12所輸入的外加電源電壓為負(fù)向電壓，因此將信號(hào)線10上的電壓拉低，且很容易的檢測(cè)到是否有信號(hào)線10與修復(fù)線8短接。進(jìn)一步優(yōu)選地，給所述外加電源電壓輸入端12所輸入的外加電源電壓的電壓值為-20V。主要是因?yàn)楫?dāng)信號(hào)線10為數(shù)據(jù)線時(shí)，數(shù)據(jù)線上所施加的電壓通常為15V，此時(shí)若某一個(gè)數(shù)據(jù)線與修復(fù)線8由于ESD短接在一起，該數(shù)據(jù)線上的電壓將會(huì)被拉低為負(fù)值，因此很容易檢測(cè)到發(fā)生短路的數(shù)據(jù)線。需要說明的是，為外加電源電壓輸入端12所輸入的外加電源電壓也可以是一個(gè)正向電壓，只要將該被短接的信號(hào)線上的電壓拉至一個(gè)與其他信號(hào)線上的電壓有明顯區(qū)別的一個(gè)值即可。其中，為外加電源電壓輸入端12所輸入的外加電源電壓為負(fù)向電壓的電壓值為-20V，也可以根據(jù)具體情況具體限定。
[0034]優(yōu)選地，在本實(shí)施例中的信號(hào)線10為數(shù)據(jù)線和/或柵線。當(dāng)信號(hào)線10為數(shù)據(jù)線時(shí)，正如【背景技術(shù)】中所言，在Shorting bar不良檢測(cè)時(shí)，與信號(hào)線10由于ESD發(fā)生短接的數(shù)據(jù)線不容易檢測(cè)出來，此時(shí)由于設(shè)置了檢測(cè)單元11和外加電源電壓輸入端12，因此可以解決現(xiàn)有技術(shù)中存在的問題?？梢岳斫獾氖?，該設(shè)置同樣可以應(yīng)用于柵線與其修復(fù)線8發(fā)生有ESD發(fā)生短接的不良檢測(cè)。
[0035]為了進(jìn)一步的提高陣列基板的開口率，因此優(yōu)選地，所述檢測(cè)單元11和所述外加電源電壓輸入端12均設(shè)置在所述陣列基板的周邊區(qū)Q2。
[0036]需要說明的是，當(dāng)對(duì)陣列基板上的信號(hào)線10是否存在不良進(jìn)行檢測(cè)完成以后，可以將檢測(cè)單元11和外加電源電壓輸入端12與修復(fù)線8切斷，以避免信號(hào)線10上的信號(hào)流失到外加電源電壓輸入端12，造成陣列基板不良。
[0037]相應(yīng)的本實(shí)施例的一種信號(hào)線不良的檢測(cè)的方法，其包括:給檢測(cè)單元11 一端施加一外加電源電壓，以及給信號(hào)線施加一驅(qū)動(dòng)電壓，當(dāng)信號(hào)線10與修復(fù)線8短接在一起時(shí)，外加電源電壓通過檢測(cè)單元11拉低與修復(fù)線8短路的信號(hào)線10上的電壓，以判斷出發(fā)生不良的信號(hào)線10。也就是，當(dāng)修復(fù)線8和信號(hào)線10之間由于ESD短接在一起時(shí)，信號(hào)線10上施加的驅(qū)動(dòng)電壓同時(shí)將檢測(cè)單元11開啟，將外加電源電壓引入該短接的修復(fù)線8上，通過修復(fù)線8拉低信號(hào)線10上的電壓，使得該信號(hào)線10與其他信號(hào)線上的電壓明顯不同，因此可以直接觀察出發(fā)生不良信號(hào)線10的位置。
[0038]具體的，以檢測(cè)單元為開關(guān)晶體管為例進(jìn)行說明，開關(guān)晶體管的控制極11-3與信號(hào)線10連接，第一極ll-ι連接外加電源電壓輸入端12，第二極11-2連接修復(fù)線8，因此，信號(hào)線10上所施加的電壓信號(hào)，則作為開關(guān)晶體管的導(dǎo)通信號(hào)。當(dāng)開管晶體管導(dǎo)通時(shí)，外力口電源輸入端所述輸入的電壓，可以通過開關(guān)晶體管引入到修復(fù)線8中，此時(shí)一旦信號(hào)線10與修復(fù)線8發(fā)生短路，那么必然修復(fù)線8上的電源電壓將同時(shí)施加到信號(hào)線10上，將信號(hào)線10上的電壓拉低或者拉高。因此可以判斷出哪一根信號(hào)線10與修復(fù)線8發(fā)生了短接。
[0039]相應(yīng)的本實(shí)施例中提供了一種顯示面板，其包括上述陣列基板，因此，該顯示面板具有較聞的良品率。
[0040]相應(yīng)的本實(shí)施例還提供了一種顯示裝置，其包括上述顯示面板。該顯示裝置可以為:手機(jī)、平板電腦、電視機(jī)、顯示器、筆記本電腦、數(shù)碼相框、導(dǎo)航儀等任何具有顯示功能的產(chǎn)品或部件。
[0041]當(dāng)然，本實(shí)施例的顯示裝置中還可以包括其他常規(guī)結(jié)構(gòu)，如顯示驅(qū)動(dòng)單元等。
[0042]可以理解的是，以上實(shí)施方式僅僅是為了說明本發(fā)明的原理而采用的示例性實(shí)施方式，然而本發(fā)明并不局限于此。對(duì)于本領(lǐng)域內(nèi)的普通技術(shù)人員而言，在不脫離本發(fā)明的精神和實(shí)質(zhì)的情況下，可以做出各種變型和改進(jìn)，這些變型和改進(jìn)也視為本發(fā)明的保護(hù)范圍。
【權(quán)利要求】
1.一種陣列基板，其包括信號(hào)線，以及與信號(hào)線交叉且絕緣設(shè)置的修復(fù)線，其特征在于，所述陣列基板還包括:檢測(cè)單元和外加電源電壓輸入端；其中， 所述修復(fù)線與所述檢測(cè)單元電性連接，所述檢測(cè)單元用于在所述修復(fù)線與所述信號(hào)線短接時(shí)，在信號(hào)線的控制下將所述外加電源電壓輸入端所輸入的外加電源電壓引入到該修復(fù)線中。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的陣列基板，其特征在于，所述檢測(cè)單元包括開關(guān)模塊， 所述開關(guān)模塊的控制端連接信號(hào)線，一端與所述外加電源電壓的輸入端，另一端連接修復(fù)線。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的陣列基板，其特征在于，所述開關(guān)模塊為開關(guān)晶體管， 所述開關(guān)晶體管的控制極連接信號(hào)線，第一極連接外加電源電壓的輸入端，第二極連接修復(fù)線。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的陣列基板，其特征在于，所述修復(fù)線與所述信號(hào)線短接時(shí)，給所述外加電源電壓輸入端所輸入的外加電源電壓為負(fù)向電壓。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的陣列基板，其特征在于，給所述外加電源電壓輸入端所輸入的外加電源電壓的電壓值為-20V。
6.根據(jù)權(quán)利要求1-5中任意一項(xiàng)所述的陣列基板，其特征在于，所述信號(hào)線為數(shù)據(jù)線和/或柵線。
7.根據(jù)權(quán)利要求1-5中任意一項(xiàng)所述的陣列基板，其特征在于，所述陣列基板包括用于顯示的顯示區(qū)和將所述顯示區(qū)包圍的周邊區(qū)，所述檢測(cè)單元和所述外加電源電壓輸入端均設(shè)置在所述陣列基板的周邊區(qū)。
8.一種信號(hào)線不良的檢測(cè)方法，其特征在于，包括: 給檢測(cè)單元一端施加一外加電源電壓，以及給信號(hào)線施加一驅(qū)動(dòng)電壓，當(dāng)信號(hào)線與修復(fù)線短接在一起時(shí)，外加電源電壓通過檢測(cè)單元拉低與修復(fù)線短路的信號(hào)線上的電壓，以判斷出發(fā)生不良的信號(hào)線。
9.一種顯示面板，其特征在于，所述顯示面板包括權(quán)利要求1至7中任意一項(xiàng)所述的陣列基板。
10.一種顯示裝置，其特征在于，所述顯示面板權(quán)利要求9所述的顯示面板。
【文檔編號(hào)】G09G3/00GK104407481SQ201410748651
【公開日】2015年3月11日 申請(qǐng)日期:2014年12月9日 優(yōu)先權(quán)日:2014年12月9日
【發(fā)明者】黃小平 申請(qǐng)人:京東方科技集團(tuán)股份有限公司, 北京京東方顯示技術(shù)有限公司